ANA-WDY50數(shù)顯式霧度測定儀 光學(xué)薄膜分析儀器是根據(jù)中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB2410-80“透明塑料透光率和霧度試驗方法”及美國材料試驗協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)ASTMD1003-61(1997)“Standard TestMethod for Hazeａnd Luminous Transmittance of Transparent Plastics”設(shè)計的微機(jī)化全自動測量儀器，技術(shù)設(shè)計符合GB2410-80 ASTMD1003-61(1997) JISK7105-81 等測試標(biāo)準(zhǔn)，有利于國內(nèi)外技術(shù)交流，適用于一切透明、半透明平行平面樣品(塑料板材、片材、塑料薄膜。平板玻璃)的透光率、透射霧度、反射率的測試，也適用于液體樣品(水、飲料、藥劑、著色液、油脂)濁度的測量，在國防科研及工農(nóng)生產(chǎn)中具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
GB2410-80 、ASTMD1003-61(1997) 、JISK7105-81
儀器特點
2、采用平行照明，半球散射，積分球光電接收方式
3、采用微機(jī)自動操作系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，無旋鈕操作，使用方便，并且有標(biāo)準(zhǔn)打印輸出接口
4、自動顯示透光率/霧度多次測量的平均值，透光率結(jié)果直接顯示到0.1%，霧度顯示到0.01%
5、無零點漂移，置信度強(qiáng)
6、特定的結(jié)構(gòu)-開啟式樣品窗幾乎不受樣品尺寸的限制，測量速度快
7、由于調(diào)制器的采用，儀器不受環(huán)境光的影響，不必采用暗室，保證了大件樣品操作者的安全
8、微機(jī)化的電子線路，精度高
9、備有標(biāo)準(zhǔn)化的數(shù)據(jù)打印輸出接口，可配套供應(yīng)程控打印機(jī).備有薄膜磁性夾具和液體樣品杯，給用戶帶來極大方便
10、隨機(jī)附霧度片一塊，便于隨機(jī)檢查儀器動作功能
技術(shù)參數(shù)
光學(xué)系統(tǒng)：準(zhǔn)直照明、漫射視野、積分球接收方式
樣品窗尺寸：入窗Φ25mm出窗Φ21mm
光源：C光源(DC12V50W鹵鎢燈+色溫片)
接收器：硅光鋰池+視見函數(shù)修正片(符合V(λ)標(biāo)準(zhǔn)值)
電子系統(tǒng)LED數(shù)碼顯示
最小讀數(shù)：透光率0.1%、霧度0.01%
BCD碼串行輸出打印接口
微機(jī)自動操作系統(tǒng)，霧度、透光率自動切換、自動測定、自動校正
微機(jī)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，多次連續(xù)測試，平均值顯示
測量范圍透光率：0%-100.0%
霧度：測量（0-30.00%）；相對測量：（30.1~99.9%）
試樣尺寸固體標(biāo)樣尺寸：50mm×50mm
固體大樣尺寸：寬度：380mm
液槽尺寸：50mm×50mm×10mm
薄膜樣品尺寸：50mm×50mm
校驗樣品Φ40mm×2mm一塊
預(yù)熱時間30min
準(zhǔn)確度透光率：≤1%
霧度：H≤0.5%±0.1%、H>0.5%±0.3%
重復(fù)性透光率：≤0.5%
霧度：H≤0.5%±0.05%、H>0.5%±0.1%
儀器尺寸長寬高：740mm*270mm*300mm
電源220V±22V、50Hz單相
環(huán)境條件5℃~35℃
儀器凈重23kg
ANA-WDY50數(shù)顯式霧度測定儀 光學(xué)薄膜分析儀器適用范圍
1. 適用于直接進(jìn)行光學(xué)玻璃透光率的測定
2. 適用于感光膠片清晰程度的檢測
3. 適用于人造偏振片偏振度的中間控制
4. 適用于航空玻璃、汽車玻璃、防毒面罩玻璃能見度的測定.包裝塑料薄膜光學(xué)綜合質(zhì)量的評定
5. 適用于農(nóng)用塑料薄膜透光率的檢驗
6. 適用于建筑、裝潢玻璃透光特性的檢查
7. 適用于光學(xué)投影屏漫射質(zhì)量的考核
8. 適用于電影銀幕、投影電視屏幕漫射能力的測定
9. 適用于廣告燈箱屏幕質(zhì)量的檢驗
10. 適用于工程描圖紙質(zhì)量的檢查
擴(kuò)展應(yīng)用
1. 適用于毛玻璃洗滌劑質(zhì)量的評定
2. 適用于塑料拋光材料拋光效率的評價
3. 適用于凡立斯絮物的測定
4. 適用于塑料玻璃面罩搞劃傷能力的評價
5. 適用于漫射涂料漫射特性的控制及檢測
6.用作液體樣品濁度測定以及適用于化學(xué)工業(yè)中著色液濁度之測定，油脂、溶劑濁度之測定等
材料檢測儀器分類 Classification of testing instruments —— | ||
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