主要特性與技術指標
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數
頻率：1 MHz 至 3 GHz
振蕩器平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數
頻率：1 MHz 至 3 GHz
振蕩器平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50
描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能
強大的內置分析功能。它將為元器件和路設計人員測量
3 GHz 以內的元器件提供**功能，幫助他們進行研發(fā)工
作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻流–壓
（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更**的阻
抗測量結果?；咀杩咕仁?+/-0.8%。高 Q 精度有利
于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3
GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
