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廣電計量檢測集團股份有限公司

超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱鉑悅儀器(上海)有限公司 廣州辦事處
  • 品       牌
  • 型       號M4 TORNADO
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時間2025/5/12 12:44:37
  • 訪問次數(shù)67
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鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器的戰(zhàn)略合作關(guān)系,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理,提高服務(wù)質(zhì)量,成為中國國內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設(shè)備,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、工業(yè)、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、生物、能源、電子、石化等各個領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測機構(gòu)、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術(shù)和售后服務(wù)團隊,本著客戶*的原則,從客戶的實際需求出發(fā),鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制Z適合的綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù),由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。

鉑悅儀器的總公司設(shè)立在上海,并在北京、廣州、成都、香港、加拿大設(shè)立了辦事處,在能及時引進*進技術(shù)的同時,保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國各地的客戶提供良好的服務(wù)。


企業(yè)文化: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責(zé)任心

E- Efficiency: 效率

D-Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機智

T- Trust: 信任


AFM探針及配件,X射線熒光測厚儀,防潮箱,壓片機,熔樣機,標樣,層析板,SPIP三維圖像處理軟件,電鏡制樣設(shè)備及耗材,Vision顯微鏡,研磨拋光機,氣體分析儀
產(chǎn)品描述:M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀。
超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀 產(chǎn)品信息

M4 TORNADOPLUS - 微區(qū)X射線熒光成像的新紀元

M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀。

作為微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產(chǎn)品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng),高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。

更輕、更快、更深

M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)實現(xiàn)對輕元素碳的檢測,高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,BRUKER孔徑管理系統(tǒng)(AMS)可以獲取大景深,對表面不平整樣品分析具有優(yōu)勢。

超輕元素檢測

M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質(zhì)元素碳的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個優(yōu)化的Rh靶X射線光管。

與普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內(nèi)元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數(shù)小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。

隨著功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應(yīng)用也正在開發(fā)和拓展中,例如地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)、生物學(xué)、聚合物研究或半導(dǎo)體行業(yè)等方向。

應(yīng)用實例-螢石和方解石的區(qū)分

螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無法區(qū)分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線。

利用超輕元素探測器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而鑒別這兩種礦物。

圖:鑒別螢石與方解石 

左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像尺寸:20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels             

右:螢石(藍)和方解石(紅)的輕質(zhì)元素光譜圖。

應(yīng)用實例-電路板

由于AMS的場深度深,如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節(jié)。此外,由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那么明顯。

圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖

左圖: 標準多導(dǎo)毛細管聚焦在電路板上,元件的高點失焦,顯得模糊。

右圖: AMS系統(tǒng)加載下圖像顯示高景深,組件聚焦在更大的景深范圍內(nèi)。

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