EDX808T型 X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀采用幾分鐘時間內對于各種金屬材料、爐渣、各種礦石、鐵精粉、除碳元素以外的其他所有30個元素進行測定；各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析；可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準確無損測量。

XY-801BX射線熒光光譜儀的詳細資料：

X射線熒光光譜儀原理：

X射線熒光光譜儀是通過一種波長較短的電磁輻射（X射線）。當用X射線光管發(fā)出高能電子照射樣品時，入射電子被樣品中的電子減速，會產生寬帶連續(xù)X射線譜。如果入射光束為X射線，樣品中的元素內層電子受其激發(fā)，可產生特征X射線，一般稱為X熒光射線（XRF）.通過SDD探測器收集到分析樣品中不同元素產生的熒光X射線波長和強度，可獲得樣品中的元素組成與含量信息，達到定性和定量分析的目的。

X射線熒光光譜儀用途：

1、鋼鐵行業(yè)：對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、

鐵礦石除碳（C）以外的各種元素成份分析。

2、 耐火材料及水泥行業(yè)的分析：各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。

3、有色行業(yè)：對鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份

分析。

4、質檢部門： ROSH 指令中的Pb，Cd ，Cr，Hg，Br 及氯素各種等成份分析。

5、 鍍層測厚：可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準確無損測量。

X射線熒光光譜儀儀器特點：

1、采用DPP 數字脈沖成型技術，計數率高，無漏計，穩(wěn)定性好；

2、采用X光管激發(fā)樣品，一次激發(fā)全部待測元素，韌致輻射型，Be（鈹）窗厚50μm，靶材Ag（銀靶），功耗低、壽命長，對輕重元素均有較高的激發(fā)效率；

3、 采用世界上的電致冷SDD 半導體探測器，分辨率高，達到130ev，無需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成對多種元素的探測；

4、高壓電源：電壓0V-50kV 連續(xù)可調；電流0-2mA 連續(xù)可調，精度高，操作；

5、 真空環(huán)境測量，提高了輕元素的激發(fā)效率和測量范圍；

6、2048 道多道譜儀實時測量顯示，對樣品X 光譜進行精細分析，系統(tǒng)可自動識別譜線，方便了解樣品的組成；

7、 自動尋峰，消除譜峰漂移影響，確保儀器長期穩(wěn)定；

8、全中文Windows 應用軟件，操作簡單。專業(yè)的分析軟件，可以實現模式識別，自動分類，開放式軟件系統(tǒng)，用戶可以根據自身需要建立庫文件；

9、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、自動尋峰和Quasi-Newton（準牛頓）優(yōu)化算法等；

10、的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP 法）、理論α系數法等多種經典分析方法，全面保證測試數據的準確性。

X射線熒光光譜儀優(yōu)勢：

精準、快速、無損、直觀、環(huán)保；

精準：測試結果可以接近濕化學方法測試；

快速：分析樣品中的幾十個元素只需幾分鐘；

無損：不會破壞被分析樣品的物理和化學特性；

直觀：分析結果以圖表方式直接呈現；

環(huán)保：不會對環(huán)境產生污染破壞；

X射線熒光光譜儀主要技術指標：

1、分析元素：Na-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。

2、分析范圍：1ppm-99.99%。

3、同時分析：30種元素同時分析.

4、能量范圍：1-50keV.

5、測量時間：1-2 分鐘可以完成全部待測元素的含量分析.

6、進口電制冷半導體探測器的分辨率：130ev.

7、 管電壓：0-50Kv 管電流： 1～2000 μA.

8、儀器的分析精度：標準偏差≤0.08%.

9、分析誤差：優(yōu)于國家標準要求.

10、輻射劑量：<25μsv/h.

11、環(huán)境溫度要求：15℃-35℃

12、工作電源：交流220±10%、50、60Hz