PicoFemto透射電子顯微鏡TEM-STM樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量。在進行原位操縱的同時利用投射電鏡及相關(guān)附件實時動態(tài)地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能和應(yīng)用領(lǐng)域。
• 經(jīng)典案例
ACS Nano:浙大采用機械減薄法獲得單元素金屬二維材料
JMST:武漢大學利用原位透射電鏡技術(shù)揭示體心立方鐵中變形孿晶調(diào)制塑性變形的強尺寸效應(yīng)
燕山大學:鈉金屬沉積/剝離動力學過程的原位觀察
Small Methods: 華中科技大學高義華團隊利用原位電鏡技術(shù)揭示納離子電池充放電行為和機械性能