X射線檢測(cè)設(shè)備
X射線檢測(cè)設(shè)備的射線照相法的缺點(diǎn)是大量信息投射在單一的平面上,而且當(dāng)沿樣品厚度的微結(jié)構(gòu)特征的數(shù)量很多時(shí),所得圖像難以解釋這些信息。層析照相法則通過(guò)將大量的這種射線照片的信息結(jié)合在一起,從而彌補(bǔ)了這種不足。其中各輻射線照片取自位于探測(cè)器前面的樣品的不同方位。如果各射線照片之間的腳步足夠小,則可根據(jù)成套的射線照片來(lái)重新計(jì)算出樣品中各點(diǎn)的衰減系數(shù)值。這種重構(gòu)可通過(guò)合適的軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)。