梅特勒超越系列名流型XP微量天平——高性能微量分析天平
梅特勒-托利多正在改變著微量分析天平世界。超越系列XP微量分析天平特別適用將微量樣品直接加入大的去皮容器中。有效避免了樣品轉(zhuǎn)移過程中的誤差，從而為您大大節(jié)省了樣品成本，尤其是在稱量昂貴樣品時(shí)。
功能和特點(diǎn)
稱量性能：該系列微量分析天平可以提供現(xiàn)有分析天平具有的*高分辨率：高達(dá)*的50,000,000位。 |
天平操作：觸摸顯示屏提供的用戶友好的操作界面。多達(dá)8個(gè)個(gè)性化設(shè)置的用戶操作界面可以被自由設(shè)定、保持和恢復(fù)。 |
SmartSens紅外感應(yīng)器：無(wú)需用手接觸天平就可以開關(guān)防風(fēng)門，將樣品放置在秤盤上。稱量操作更快速、更便捷。 |
| 標(biāo)準(zhǔn)特性 | 所有型號(hào)： | |||||||||||||||
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| 規(guī)格 梅特勒 XP26 微量分析天平 | |
| *大稱量范圍 | 22 g |
| 可讀性 | 1 µg |
| 重復(fù)性 | 1.5 µg |
| 靈敏度（長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定） | 1x10-6/a?Rnt |
| 靈敏度（溫度取樣泵漂移） | 1x10-6/°C?Rnt |
| 穩(wěn)定時(shí)間（典型） | 3.5s |
| 外部砝碼校準(zhǔn) | 可選 |
| 內(nèi)部砝碼校準(zhǔn) | ProFact, 溫度漂移和時(shí)間觸發(fā)的全自動(dòng)內(nèi)校 |
| 尺寸 | 263x487x322 mm |
| 稱量盤上方的有效高度 | 111 mm |
| 接口 | RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN |
| Linearity | 6 µg |
| Size of weighing pan | 40x40 mm |
| Minimum weigh (typical acc. USP) | 2.1 mg |
| Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 0.14 mg |
| Sensitivity offset | 4x10-6·Rnt |
環(huán)保在線