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產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆好的測(cè)試技術(shù)，好的驅(qū)動(dòng)能力，原因的電路板皆可修好

◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)訓(xùn)練，均可成為維修

◆無需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)電路板皆可快速維修

◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)；

◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能

◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較

◆與進(jìn)口同類儀器比較，優(yōu)，操作方便

◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試。

◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄，比較分析來測(cè)試。

技術(shù)規(guī)格：

并口

Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作

雙CPU工作，速度更快，效率更高。

功能測(cè)試40×2通道

VI曲線測(cè)試40×2通道

雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試

網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電

EPROM/RAM在線讀取

模擬器件 VI曲線測(cè)試

總線隔離信號(hào)

中文維修筆記

◆[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加準(zhǔn)確

■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測(cè)試

■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試

■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降

■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線

■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定

■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確保各類器件的V/I測(cè)試

◆集成電路在線功能測(cè)試

本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、

4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。 1、快速測(cè)試：直接

顯示測(cè)試結(jié)果，迅速確定可疑IC 2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過程，測(cè)試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)

際響應(yīng)，幫助分析原因 3、器件識(shí)別：查找無標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC。

◆集成電路在線狀態(tài)測(cè)試

通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有的IC。1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、狀態(tài)比較：同

板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)

中的各IC的狀態(tài)資料。

◆集成電路離線功能測(cè)試

離線測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片

◆V/I曲線測(cè)試

通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定節(jié)點(diǎn)及故IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在線

學(xué)習(xí)*板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、曲線比較：同故

障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC

是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大規(guī)模

集成電路分析測(cè)試

網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采

用了四種模式：

1、探棒對(duì)探捧（“棒"—“棒"模式）

2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒"—“夾"模式）

3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾"—“棒"模式）

4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說明文件。該說明

文件可以通過任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可

與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法

a）在TVED圖形界面上直接建立

b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果

2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形加

以調(diào)整、修改。

3、4種測(cè)試方式：

a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試

b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分

c）循環(huán)執(zhí)行

d）單步運(yùn)行

備注信息：

比舊款的4040/8080增加了以下功能：

◆網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采

用了四種模式：

1、探棒對(duì)探捧（“棒"—“棒"模式）

2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒"—“夾"模式）

3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾"—“棒"模式）

4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說明文件。該說明

文件可以通過任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可

與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法

a）在TVED圖形界面上直接建立

b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果

2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形加

以調(diào)整、修改。

3、4種測(cè)試方式：

a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試

b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分

c）循環(huán)執(zhí)行

d）單步運(yùn)行

◆操作系統(tǒng)的兼容性增強(qiáng)