- zui高采樣速率 240MHz，測量分辨率 0.1mm
- 工作頻率范圍 0.5～10MHz，靈敏度余量高達(dá) 65dB
- 20～2000Hz的脈沖重復(fù)頻率，步進(jìn)20Hz，避免探傷過程中出現(xiàn)混響信號
- 自動增益控制 AGC，配合峰值回波、圖像凍結(jié)功能，快速確定缺陷zui高波，探傷更高效
- AVG 曲線，使用已知平底孔或大平底回波，制作出 3 條不同當(dāng)量的曲線
- DAC 曲線，配合回波比較功能，使不同距離不同波幅的回波定量更簡便
- 寬視角、高亮度、高清晰度的 5.7”進(jìn)口彩色 TFT 顯示屏，亮度可調(diào)，細(xì)節(jié)一覽無遺
- 3 種不同的顯示顏色搭配方案，滿足不同使用場景和習(xí)慣的需求
- 存儲 300 組曲線及波形，滿足不同探傷工藝應(yīng)用及探傷數(shù)據(jù)存檔的需求
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存
探傷回波、曲線、參數(shù)等經(jīng)USB接口無損轉(zhuǎn)存到U盤 ，由U盤將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計算機(jī)，方便報告編輯及數(shù)據(jù)管理
DNA曲線
DAC曲線功能令缺陷評價更加輕松、方便
大鍛件探傷
大探測范圍，高靈敏度余量，滿足大鍛件或粗晶材料的檢測
圖示為400mm Φ2平底孔鍛件試塊的回波
峰值回波
自動刷新屏幕范圍內(nèi)的zui高回波，快速完成缺陷的定位
技術(shù)參數(shù)
項 目 | 單 位 | 技 術(shù) 數(shù) 據(jù) |
衰減器誤差 | dB | 每12dB ±1dB |
垂直線性誤差 | % | ≤3 |
動態(tài)范圍 | dB | ≥30 |
探傷靈敏度余量 | dB | ≥60（2.5Z20N探頭） |
薄板分辨力 | mm | ≤3（5C10N 探頭） |
遠(yuǎn)區(qū)分辨力 | dB | ≥26 |
水平線性誤差 | % | ≤0.5 |
探測范圍 | mm | 0 ~ 13000（鋼縱波） |
材料聲速 | m/s | 400 ~ 9999 |
增益調(diào)節(jié) | dB | 范圍：0 ~ 110； 調(diào)節(jié)檔位：0.5 / 2 / 6/ 12 |
工作頻率 | MHz | 1 ~ 4 / 0.5 ~ 10 |
抑制 | % | 0 ~ 80 非線性抑制 |
檢波方式 |
| 負(fù)向檢波 / 正向檢波 / 雙向檢波 / 濾波 |
脈沖重復(fù)頻率 | Hz | 20~2000，步進(jìn)20Hz |
閘門 |
| 閘門方式：off / 進(jìn)波 / 失波 / 進(jìn)波+報警聲 / 失波+報警聲 |
存儲 |
| 300組數(shù)據(jù)集，包括儀器設(shè)置、探傷狀態(tài)和回波圖形等 |
自動增益功能 |
| 使閘門內(nèi)回波幅度自動調(diào)節(jié)到幅度 幅度設(shè)置：40% / 50% / 60% / 70% / 80% / 90% / * |
峰值記憶功能 |
| 顯示波形包絡(luò) |
峰值回波功能 |
| 記錄包含zui高回波的回波波形 |
凍結(jié)功能 |
| 凍結(jié)屏幕波形 |
自動校正功能 |
| 用于校正材料聲速與探頭零點 校正模式：聲速+零點 / 聲速 / 零點 |
角度測量功能 |
| 用于測量探頭角度 |
轉(zhuǎn)存功能 |
| 通過USB接口把儀器內(nèi)部數(shù)據(jù)集轉(zhuǎn)存到U盤中 |
截圖功能 |
| 將儀器屏幕存為圖片并輸出到U盤中 |
工作時間 | h | ≥7 （與背景光亮度有關(guān)） |
工作電壓 | V | 9～12 (外部直流電源)， 6.0~8.4 (電池) |
工作溫度 | ℃ | －10~40 |
環(huán)境要求 |
| IP 65 |
重量 | kg | 約1.15（含電池） |
尺寸 | mm | 152 × 240 × 52 (寬×高×深) |
環(huán)保在線