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X熒光鍍層測(cè)厚分析儀

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更新時(shí)間：2017-08-31 11:26:57瀏覽次數(shù)：889次

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鍍層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

X熒光鍍層測(cè)厚分析儀能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。

詳細(xì)介紹

X熒光鍍層測(cè)厚分析儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率*，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對(duì)您的應(yīng)用選擇zui合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。一旦識(shí)別出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。

X熒光鍍層測(cè)厚分析儀組成