比長(zhǎng)儀的概述：
比長(zhǎng)儀是以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測(cè)長(zhǎng)度，主要用于測(cè)量線紋距離的精密長(zhǎng)度測(cè)量工具
一般采用測(cè)量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)定位部件，并以精密線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度，與被測(cè)長(zhǎng)度比較而確定量值。主要用于檢定線紋尺，測(cè)量分劃板上的線距和物理、天文類(lèi)照相底片上的光波譜線距離，也可用于測(cè)量孔徑。
分類(lèi)：
按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類(lèi)。縱向采用線紋尺作為已知長(zhǎng)度，且結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合阿貝原則，稱(chēng)為阿貝。測(cè)量時(shí),先用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)被測(cè)線條，從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動(dòng)工作臺(tái)，再用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)另一被測(cè)線條，從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個(gè)數(shù)值之差即是被測(cè)兩線條間距離。
橫向的被測(cè)長(zhǎng)度和已知長(zhǎng)度是并列布置的，這種布局可以縮短導(dǎo)軌長(zhǎng)度，但要求導(dǎo)軌精度高。采用愛(ài)賓斯坦光學(xué)系統(tǒng),可以補(bǔ)償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者，稱(chēng)為光電；采用激光或其他單色光波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度者，分別稱(chēng)為激光和光電光波。阿貝的測(cè)量精確度為±1～±1.5微米/200毫米，光電可達(dá)到±0.5微米/1000毫米，而光電光波和激光則可達(dá)到±0.2微米/1000毫米。
結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：
是由刻度盤(pán)1、千分表2、上測(cè)頭3、90°V型槽支架4、下測(cè)頭5、標(biāo)準(zhǔn)桿6、底座等組成。它具有使用方便、測(cè)量精度高、速度快、讀數(shù)清楚等優(yōu)點(diǎn)。為了滿足用戶的使用要求，支架采用V型槽式，上下測(cè)頭采用平面測(cè)頭，這種方法提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確性，可供廣大用戶試驗(yàn)檢測(cè)用。
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