一、技術要求
1 外觀與初步檢查
1.1 儀器應有下列標志：儀器名稱、型號、制造廠名、出廠編號與出廠日期等。
1.2 儀器及附件的所有緊固件應緊固良好；連接件應連接良好；運動部件應運動靈活、平穩(wěn)；氣路系統(tǒng)應可靠密封，不得泄露。
1.3 儀器的各旋鈕及功能鍵應能正常工作；由計算機控制或帶微機的儀器，當由鍵盤輸入指令時，各相應的功能應正常。
2 波長示值誤差與重復性
波長示差誤差不大于±0.5nm，波長重復性優(yōu)于0.3nm。
3 分辨率儀器光譜帶寬為0.2nm 時，應可分辨279.5nm和279.8nm雙線。
4 基線穩(wěn)定性
30min內(nèi)靜態(tài)基線和點火基線的穩(wěn)定性應不大于下表所列指標。
項目 | 新制造 | 使用中和維修后 |
靜態(tài)基線 | zui大零漂 zui大瞬時噪聲 | ±0.005 0.005 | ±0.006 0.006 |
點火基線 | zui大零漂 zui大瞬時噪聲 | ±0.006 0.006 | ±0.008 0.008 |
5 邊緣能量
在儀器波長處，應能對193.7nm，銫852.1nm譜線進行測定，其瞬時躁聲應小于0.03A。
6 火焰法測定銅的檢出限（CL(K =3)）和精密度（RSD）
新制造儀器應分別不大于0.008µg/ml和1%；使用中和修理后的儀器應分別不大于0.02µg/ml和1.5%。
7 石墨爐法測定隔的檢出限（CL(K =3)），特征量（C。M。）和精密度（RSD）
新制造儀器應分別不大于2pg， 1pg和5%；使用中和修理后的儀器分別不大于4pg， 2pg和7%。
8 樣品溶液噴吸量和表現(xiàn)霧化率
吸噴量應不小于3ml/min； 霧化效率應不小于8%。
9 背景校正能力
在背景衰減信號約為1A時，校正后的信號應不大于該值的1/30。
10 絕緣電阻
儀器的絕緣電阻應不小于20MΩ。
11新制造的儀器必須全面進行1~10條的檢定；使用中和修理后的儀器原則上進行第2~7條及第9條的檢定，必要時增加第8條的檢定。
四 檢定項目和檢定方法
1 外觀與初步檢驗
儀器外觀與初步檢查應符合第1條規(guī)定。
2 波長示值誤差與重復性檢定
2.1 波長的測量
2.1.1 按空心陰極燈上規(guī)定的工作電流，將汞燈點亮，待其穩(wěn)定后，在光譜帶寬0.2nm條件下，從下列汞、氖譜線253.7；365.0；435.8；546.1；640.2；724.5和871.6nm中按均勻分布原則，選取三至五條逐一作三次單向（從短波向長波方向）測量，以給出zui大能量的波長示值作為測量值，然后按15.2款的方法計算波長示值誤差與重復性。
2.1.2 對于自動設定波長的儀器，可從打印出的譜線輪廓圖或 顯示屏幕上讀出波長的測量值。
2.2 波長示值誤差與重復性的計算
2.2.1 波長示值誤差（Δλ）按下式計算；
式中： λr—汞、氖譜線的波長標準值；
λi—汞、氖譜線的波長測量值。
2.2.2波長重復性（δλ）按下式計算；
式中 λmax—某譜線三次波長測量值中的zui大值；
λmin—某譜線三次波長測量值中的zui小值。
3 分辨率檢定
點亮錳燈，待其穩(wěn)定后，光譜帶寬0.2nm，調(diào)節(jié)光電倍增管高壓，使279.5nm譜線的能量的100，然后掃描測量錳雙線，此時應能明顯分辨出279.5和279.8nm兩條譜線，且兩線間峰谷能量應不超過40%。
4 基線穩(wěn)定性檢定
4.1 靜態(tài)基線穩(wěn)定性，光譜帶寬0.2nm，量程擴展10倍，點亮銅燈，在原子化器未工作的條件下，按以下步驟測量：
4.1.1 單光束儀器與燈同時預熱30min，用“瞬時”測量方式，或時間常數(shù)不大于0.5s，測定324.7nm譜線的穩(wěn)定性，既為30min內(nèi)zui大漂移量和瞬時躁聲（峰-峰值）。
4.1.2 雙光束儀器預熱30min，銅燈預熱3min，再按17.1.1測定30min內(nèi)zui大漂移量和瞬時躁聲（峰-峰值）。
4.2 點火基線穩(wěn)定性，按測銅的條件，點燃乙炔/空氣火焰，吸噴去離子水，10min后在吸噴去離子水的狀況下，重復17.1的測量，30min內(nèi)zui大漂移量和瞬時躁聲應符合第4條的要求。
5 邊緣能量檢定
點亮砷和銫燈，待其穩(wěn)定后，在光譜帶寬為0.2nm，響應時間不大于1.5s的條件下（使用中和修理后的儀器可用生產(chǎn)廠推薦的條件）對As193.7nm和Cs852.1nm譜線進行18.1，和18.2款（或18.3款）的測量。
5.1 兩譜線的峰值能量應該可以調(diào)節(jié)到100%，且背景值/峰值應不大于2%。
5.2 測量譜線的瞬時躁聲，5min內(nèi)zui大瞬時躁聲（峰-峰值）應不大于0.03A。
5.3 兩譜線調(diào)到能量為100%時，光電倍增管的高壓不超過650V，使用中和修理后的儀器可放寬到zui大高壓值的85%。
6 火焰原子化法測銅的檢出線（CL(K =3)）檢定
7.1 將儀器各參數(shù)調(diào)至狀態(tài)，用空白溶液調(diào)零，分別對三種銅標準溶液進行三次重復測定，取三次測定的平均值后，按線形回歸法求出工作曲線的斜率，即為儀器測定銅的靈敏度（S）。
S=dA/dC [A/(µg·ml-1)]
7.2 在與7.1*相同的條件下，將標尺擴展10倍，對空白溶液（或濃度三倍于檢出線的溶液）進行11次吸光度測量，并求出其標準偏差（SA）。
7.3 按下式計算銅的檢出限：
CL(K=3)=3SA/S (µg/ml)
8 火焰原子化法測銅的精密度檢定
在進行7條測定時，選擇系列標準溶液中某一溶液，使吸光度為0.1~0.3范圍，進行七次測定，求出其相對標準偏差（RSD），即為儀器測銅的精密度。
9 石墨爐原子化法測鎘的檢出限（CL(K=3)）檢定
9.1 將儀器各參數(shù)調(diào)至工作狀態(tài)，分別對空白和三種鎘標準溶液進行三次重復測定，取三次測定的平均值后，按線形回歸法求出工作曲線斜率，即為儀器測鎘的靈敏度（S）。
S=dA/dQ=dA/d(C×V)
(A/pg) 式中 C——溶液濃度 （nglml）；
V——取樣體積 （µl）。
9.2 在與9.1款*相同的條件下，對空白溶液進行11次吸光度測定，并求出其標準偏差（SA）。
9.3 按下式計算儀器測鎘的檢出限：
CL(K=3)=3SA/S (g)
9.4 儀器測定鎘的特征量（C.M.）按下式計算：
C.M.=0.0044/S (pg)
10 石墨爐原子化法測鎘的精密度檢定
在進行第9條測定時，對3.00ng/ml的鎘標準溶液進行七次重復測定，并求出其相對標準偏差（RSD），即為儀器測鎘的精密度。
11 樣品溶液的吸噴量（F）和表現(xiàn)霧化率（ε）檢定
11.1 在與7條相同的條件下，在10ml量筒內(nèi)注入去離子水至zui上端刻線處，將毛細管插入量筒底部，同時啟動秒表，測量1min時間內(nèi)量筒中水所減少的體積，即為吸噴量（F）。
11.2 將毛細管那出水面，待廢液管出口處再無廢液排除后，將它接到10ml量筒（量筒1）內(nèi)（注意：保持一段水封）。在另一量筒（量筒2）內(nèi)注入10ml水，在與23.1款相同的條件下，將毛細管插入水中，直至10ml水全部吸噴完畢，待廢液管中再無廢液排出后，測量排出的廢液體積V（ml），并計算表現(xiàn)霧化率（ε）：
ε =10-V/10ⅹ100%
12 背景校正能力檢定
12.1 對于僅有火焰原子化器的儀器，在Cd228.8nm波長下，先用無背景校正方式測量，調(diào)零后將屏網(wǎng)（吸光度約為1）插入光路，讀下吸光度A1，再將測量方式改為有背景校正方式，調(diào)零后，再把屏網(wǎng)插入光路，讀下吸光度A2。
12.2 對于帶石墨爐的儀器，將儀器參數(shù)調(diào)到石墨爐測鎘的狀態(tài)，以峰高測量方式*行無背景校正測量，用移液管加一定量的氯化鈉溶液(該溶液濃度為5.0mg/ml，必要時可稀釋)，使產(chǎn)生1左右的吸收信號，讀下吸光度A1，再用有背景校正方式測量，加入相同的氯化鈉溶液并讀下吸光度A2。
12.3按12.1或12.2款的方法測出A1和A2后，所計算的A1/A2值應符合一中的第9條規(guī)定。
