1、介質(zhì)損耗
    什么是介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。
2、介質(zhì)損耗角δ
    在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角 （ 功率因數(shù)角Φ ） 的余角 （ δ ） 。 簡稱介損角。信息來源：
3、介質(zhì)損耗正切值tgδ
    又稱介質(zhì)損耗因數(shù)，是指介質(zhì)損耗角正切值， 簡稱介損角正切。

    這正是損失角δ =（ 90° -Φ） 的正切值。因此現(xiàn)在的數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講，是通過測量δ或者 Φ 得到介損因數(shù)。
    測量介損對(duì)判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。
    測量介損的同時(shí)，也能得到試品的電容量。如果多個(gè)電容屏中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路，電容量就有明顯的變化，因此電容量也是一個(gè)重要參數(shù)。
4 、高壓電容電橋
    高壓電容電橋的標(biāo)準(zhǔn)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電容器的電流、試品通道輸入試品電流。通過比對(duì)電流相位差測量tgδ，通過出比電流幅值測量試品電容量。因此用電橋測量介損還需要攜帶標(biāo)準(zhǔn)電容器、升壓PT和調(diào)壓器。接線也十分煩瑣。信息來源：
 

5 、高壓介質(zhì)損耗測量儀
    簡稱介損儀，是指采用電橋原理，應(yīng)用數(shù)字測量技術(shù)，對(duì)介質(zhì)損耗角正切值和電容量進(jìn)行自動(dòng)測量的一種新型儀器。一般包含高壓電橋、高壓試驗(yàn)電源和高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器三部分。
    AI-6000 利用變頻抗干擾原理，采用傅立葉變化數(shù)字波形分析技術(shù)，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流和試品電流進(jìn)行計(jì)算，抑制力強(qiáng)，測量結(jié)果準(zhǔn)確穩(wěn)定。

6 、外施
    使用外部高壓試驗(yàn)電源和標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行試驗(yàn)，對(duì)介損儀的示值按一定的比例關(guān)系進(jìn)行計(jì)算得到測量結(jié)果的方法。
7 、內(nèi)施
    使用介損儀內(nèi)附高壓電源和標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行試驗(yàn)，直接得到測量結(jié)果的方法。
8 、正接線
    用于測量不接地試品的方法，測量時(shí)介損儀測量回路處于地電位。

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9 、反接線
    用于測量接地試品的方法，測量時(shí)介損儀測量回路處于高電位，他與外殼之間承受全部試驗(yàn)電壓。
10 、常用介損儀的分類
    現(xiàn)常用介損儀有西林型和M型兩種，QS1和AI-6000為西林型。
1 1 、常用抗干擾方法
    在介質(zhì)損耗測量中常見抗干擾方法有三種： 倒相法、移相法和變頻法。AI-6000采用變頻法抗干擾，同時(shí)支持倒相法測量。
1 2 、準(zhǔn)確度的表示方法
tg δ ：±（1%D+0.0004）
CX： ±（1%C+1pF）
    +前表示為相對(duì)誤差，+后表示為誤差。相對(duì)誤差小表示儀器的量程線性度好，誤差小表示儀器的誤差起點(diǎn)低，但這兩個(gè)指標(biāo)是相符相成的，一般不存在相對(duì)誤差大、誤差小的現(xiàn)象。校驗(yàn)時(shí)讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值的差應(yīng)小于以上準(zhǔn)確度，否則就是超差。信息來源：
1 3 、抗干擾指標(biāo)
    抗干擾指標(biāo)為滿足儀器準(zhǔn)確度的前提下，干擾電流與試驗(yàn)電流的zui大比例，比例越大，抗干擾性能越好。AI-6000 在200%干擾（即I干擾 / I試品≤2）下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度。這是對(duì)抗干擾進(jìn)行定量的分析，而不應(yīng)提“抗22萬電場干擾或50萬電場干擾”。