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X-RAY膜厚儀

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產(chǎn)品型號XULM

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更新時間：2022-07-12 14:53:44瀏覽次數(shù)：967次

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金霖電子（香港）有限公司

經(jīng)營模式：代理商

商鋪產(chǎn)品：16條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：吳靜（銷售）

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產(chǎn)品簡介

X-RAY膜厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.

詳細介紹

x-ray膜厚測試儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板，x-ray膜厚測試儀采用全新數(shù)學(xué)計算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。

x-ray膜厚測試儀能夠有效并精確的測量合金屬成分，只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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關(guān)鍵詞：光譜儀