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德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest730

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更新時(shí)間：2022-08-22 15:12:12瀏覽次數(shù)：197次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest730加強(qiáng)了德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。

詳細(xì)介紹

新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。

- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精確性
- 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)

德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest730優(yōu)點(diǎn)一覽

- SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
- 生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件

技術(shù)參數(shù)
主機(jī)德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest730

主機(jī)型號(hào)	MiniTest720	MiniTest730	MiniTest740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量	zui多10,000個(gè)	zui多10,000個(gè)	zui多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)、zui小值、zui大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限
測(cè)量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作溫度 /存放溫度	- 10℃~60℃/- 20℃~70℃
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

技術(shù)參數(shù)

探頭特性		F1.5，N07，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
		F	N	F	F	N	F
測(cè)量范圍		0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍		小工件，薄涂層		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測(cè)量原理		磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號(hào)處理		探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
精確度		±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性		±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率		0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑(凸)		1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑	(凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
	(凹，內(nèi)置探頭)	30mm		30mm			30mm
zui小測(cè)量面積		Ø5mm		Ø10mm			Ø25mm
zui小基體厚度		0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度		每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下zui大測(cè)量速度		每分鐘70個(gè)讀數(shù)