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輕微影響涂層測(cè)厚儀的精度因素_有關(guān)說明及技術(shù)交流
閱讀：6 發(fā)布時(shí)間：2025-1-11輕微影響涂層測(cè)厚儀的精度因素_有關(guān)說明
輕微影響涂層測(cè)厚儀的精度因素_有關(guān)說明
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)涂層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每一種涂層測(cè)厚儀有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量涂層測(cè)厚儀時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
9、測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
10、測(cè)頭的取向
涂層測(cè)厚儀測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
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超聲波測(cè)厚儀透過涂層測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此試驗(yàn)方法測(cè)量?！ 〕暡y(cè)厚儀每一種技術(shù)都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，對(duì)一個(gè)特定的應(yīng)用都應(yīng)該考慮選擇哪一種方法： 超聲波測(cè)厚儀透過涂層測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)： 1、能測(cè)量多種金屬厚度，具代表性的，在鋼中能從1mm到50mm 2、只需要一個(gè)回波 3、在點(diǎn)蝕情況能更精確地測(cè)量剩余地*小厚度 透過涂層測(cè)量缺點(diǎn)： 1、涂層*薄為0.125mm 2、涂層表面應(yīng)當(dāng)比較光滑 3、需要使用2種特定探頭中地一個(gè)4，表面溫度大約為50℃或51.67℃ 回波——回波測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)： 1、可使用多種普通探頭工作 2、常能穿透粗糙表面涂層工作 3、用適當(dāng)?shù)奶筋^能在接近500℃或498.89℃的高溫時(shí)工作 回波——回波測(cè)量缺點(diǎn)： 1、需要多次底面回波，在嚴(yán)重腐蝕的金屬中可能不存在多次底面回波 2、厚度范圍比透過涂層測(cè)量限制更多。