李小姐
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當前位置:廣電計量檢測集團股份有限公司>>失效分析>>裝備制造>> 失效分析電子元器件篩選方案加急檢測
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號失效分析
品 牌廣電計量
廠商性質工程商
所 在 地廣州市
更新時間:2025-03-19 11:30:26瀏覽次數(shù):1788次
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加工定制 | 是 | 服務區(qū)域 | 全國 |
---|---|---|---|
服務周期 | 常規(guī)3-5天 | 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 |
服務資質 | CMA/CNAS認可 | 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 |
增值服務 | 可加急檢測 | 是否可定制 | 是 |
是否有發(fā)票 | 是 |
電子元器件篩選方案加急檢測服務范圍
半導體集成電路:時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅動器、電平轉換器、 門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調整器、電壓?較器、 電源類芯片(穩(wěn)壓器、開關電源轉換器、電源監(jiān)控器、電源管理等)、數(shù)模轉換器(A/D、D/A、SRD)、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等;
半導體分立器件:二極管、三極管、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;
電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧振器;繼電器;電連接器;開關及?板元件;濾波器;電源模塊等。
檢測標準
●GJB7243-2011電子元器件篩選技術要求
●GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法
●GJB360A-1996電子及電氣元件試驗方法
●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
●QJ10003—2008進口元器件篩選指南
●MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
●MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序
電子元器件篩選方案加急檢測檢測項目
●外觀檢查;
●電性能測試:常溫測試/高溫測試/低溫測試;
●環(huán)境/機械應力檢測:振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封(粗檢漏、細檢漏 )、粒子碰撞噪聲檢測(PIND);
●高溫動態(tài)老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間歇壽命老煉;
●芯片超聲檢測;
●X射線照相。
相關資質
CNAS
服務背景
電子元器件是裝備的關鍵原材料,元器件篩選是提升電子裝備可靠性的關鍵手段,嚴格執(zhí)行型號的三級篩選管理規(guī)定,從源頭上保證裝備的可靠性和質量一致性是電子裝備批產(chǎn)的關鍵。
我們的優(yōu)勢
廣電計量可滿足各等級元器件篩選方案設計和檢測需求,提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案,幫助企業(yè)及時發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備可靠性提升。
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