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Carl Zeiss電子顯微鏡 Crossbeam 350

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更新時(shí)間：2023-11-29 13:05:50瀏覽次數(shù)：132次

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天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷(xiāo)Carl Zeiss電子顯微鏡 Crossbeam 350
產(chǎn)品型號(hào)：Crossbeam 350

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天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷(xiāo)Carl Zeiss電子顯微鏡 Crossbeam 350

關(guān)鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡 Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：

蔡司Crossbeam的TEM薄片制備工作流程的一部分
帶上顯微操縱器并將薄片連接到其
從散裝中切出薄片
然后，薄片準(zhǔn)備好提升并且可以轉(zhuǎn)移到TEM網(wǎng)格
使用Gemini電子光學(xué)從高分辨率SEM圖像中提取真實(shí)樣本信息。Ion-sculptor FIB色譜柱引入了一種新的FIB處理方式：通過(guò)大限度地減少樣品損傷，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量并同時(shí)更快地進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。在制備TEM樣品時(shí)，使用離子雕刻機(jī)FIB的低電壓功能：獲得超薄樣品，同時(shí)保持少量的非晶化損傷。在ZEISS Crossbeam系列中，要么利用Crossbeam 350的可變壓力功能或者使用Crossbeam 550進(jìn)行苛刻的表征。
參數(shù)：
SEM：Gemini I光學(xué)，VP選項(xiàng)
腔室尺寸和端口標(biāo)準(zhǔn)：帶18個(gè)可配置端口
顯微鏡臺(tái)：100毫米行程范圍x / y
示例選項(xiàng)：Inlens SE和Inlens EsB 用于同時(shí)成像SE / EsB 成像
VPSE探測(cè)器
可變壓力功能（可選）
瑞利光電自成立之初便憑借著對(duì)國(guó)內(nèi)和市場(chǎng)的深入調(diào)研和了解，在經(jīng)營(yíng)理念、管理制度、貿(mào)易接洽、人才任用等方面都擁有較大的競(jìng)爭(zhēng)力，并確立了明確的戰(zhàn)略目標(biāo)。