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作為五大常規(guī)檢測方法之一的射線檢測（Radiology），在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。目前射線檢測按照美國材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)（ASTM）的定義可以分為：照相檢測、實(shí)時(shí)成像檢測、層析檢測和其它射線檢測技術(shù)四類。、
X射線與自然光并沒有本質(zhì)的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見光。它能夠穿透可見光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光，還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對(duì)射線的衰減，引起透射射線強(qiáng)度的變化，這樣，采用一定的檢測方法，比如利用膠片感光，來檢測透射線強(qiáng)度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。
ΔI/I=-(（μ-μ’）ΔT)/(1+n)
這個(gè)公式就是基本原理的關(guān)系式，ΔI/I稱為物體對(duì)比度，從它我們可以得知，只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸、其衰減系數(shù)與物體的線衰減系數(shù)具有一定差別，并且散射比控制在一定范圍，我們就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對(duì)比度，從而發(fā)現(xiàn)缺陷
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