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當(dāng)前位置：北京宏昌信科技有限公司>> 掃描開爾文探針測試系統(tǒng)
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所 在 地北京市
更新時(shí)間：2018-04-28 10:59:11瀏覽次數(shù)：5294次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線掃描開爾文探針測試系統(tǒng)SKP370 Scanning Kelvin Probe System
空氣質(zhì)量檢測儀
光譜/色譜/分光光度計(jì)
SKP370 為表面科學(xué)測量提供了一個(gè)新的途徑，SKP探針是一種非接觸，非破壞性的儀器，可以用于測量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。
| Signal Chain | Phase sensitive detection using micro-processor controlled lock-in amplifier with digital dual phase oscillator and differential electrometer input. |
| Lock-In Amplifier | Software controllable gain range. Gain 1-105. Maximum theoretical sensitivity 0.5µV FSD. Output time constant 0.1, 1, 10 seconds. |
| Differential Electrometer | 1015 Ohms input impedance. Decade gain ranges 0 to 80dB. Common mode range ±12V |
| Vibration Actuator | One dimensional low voltage piezo-electric actuator |
| Vibration Amplitude （±10%） | Software set from 0-30 microns perpendicular to sample surface. |
| Backing Potential Controller Potential Range | ±10V |
| Backing Potential Controller DAC Resolution | 300µV |
| Backing Potential Controller Sampling | 0.1 to 1000Hz |
| Backing Potential Controller Type | PID controller |
| Probe Type | SKPR Tungsten air gasp |
| Electrochemical Sensitivity | Better than 0.15meV |
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