1 μg 可讀性，1 μg 重復(fù)性，秤量為 800 mg
小于 0.8ug 的重復(fù)性對于獲得更優(yōu)稱量可靠性來說至關(guān)重要的。 XS 微量天平可減少不必要的重復(fù)測試以及對昂貴樣品的浪費，同時可保證在稱量最小的微量樣品時也具有準(zhǔn)確的稱量結(jié)果。
易于操作
具有可定制化的 XS 觸摸終端可確保操作更加簡單、
直觀及無差錯。
用戶指導(dǎo)過程管理
梅特勒-托利多的 LabX 實驗室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動數(shù)據(jù)處理、計算和報告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實現(xiàn)過程安全性和可追溯性要求，并支持您實現(xiàn)無紙化實驗室。
擴(kuò)展更加智能
每個 XS 微量天平可以根據(jù)應(yīng)用要求進(jìn)行優(yōu)化。 即使在
惡劣的稱量條件下，U 型去靜電裝置電極等配件依
然可確保您稱量結(jié)果的準(zhǔn)確性與再現(xiàn)性。
規(guī)格參數(shù)
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XS3DU | |
| 分辨率 | 10 µg;1 µg |
| 可讀性 | 10 µg;1 µg |
| 合法交易 | No |
| 尺寸 (高x寬) | 113 mm x 128 mm |
| 秤量 | 3.1 g/800 mg |
| 最小稱量值 (USP)，典型值 | 1 mg |
| 校正 | 內(nèi)部/ FACT |
| 秤盤直徑 | 27 mm |
| 穩(wěn)定時間 | 6 s |
| 線性誤差（典型值）± | 4 µg |
| 重復(fù)性（典型） | 0.5 µg |
| 重復(fù)性（校驗砝碼） | 5 µg (0.2 g) |
標(biāo)簽：電子天平 梅特勒 微量天平 電子天平
