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宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司
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更新時(shí)間：2022-03-31 12:40:08瀏覽次數(shù)：524次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線高溫高壓環(huán)境加速試驗(yàn)箱/高壓加速測(cè)試箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。
高溫高壓環(huán)境加速試驗(yàn)箱/高壓加速測(cè)試箱產(chǎn)品應(yīng)用:PCT加速老化試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
高溫高壓環(huán)境加速試驗(yàn)箱/高壓加速測(cè)試箱
a 型號(hào)：PCT—45L
b 內(nèi)箱尺寸：450x500mm圓形內(nèi)箱，符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
c 外箱尺寸：700x650x850mm(W、H、D）
d 容量： 35kg
參數(shù)：
a 溫度范圍： 100℃~+132 ℃
b 溫度波動(dòng)度:±0.5℃
c 溫度偏差：±1.5 ℃
e 濕度范圍：99%RH（飽和蒸氣）
f 濕 度波動(dòng)度：±2.0%RH
j 加壓時(shí)間：40分鐘 +132 ℃
h 循環(huán)方式：水蒸氣對(duì)流循環(huán)
四高溫高壓材質(zhì)：
a 外箱材質(zhì)：高級(jí)不銹鋼
b 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316#不銹鋼
c 箱體保溫材質(zhì)：高級(jí)超細(xì)玻璃棉
d 單門(mén)圓門(mén)：門(mén)把手在右、內(nèi)箱壓力愈大時(shí)，會(huì)有反壓使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠
壓*不同，可延長(zhǎng)packing壽命。
五高溫高壓蒸煮儀安全保護(hù)：
a 試驗(yàn)箱可調(diào)試高溫保護(hù)
b 壓力限制保護(hù)
c 缺水報(bào)*保護(hù)
d 溫度加熱器保護(hù)
e 漏電漏水保護(hù)（設(shè)置報(bào)*）
f 手動(dòng)泄壓保護(hù)，自動(dòng)泄壓保護(hù)
j 切斷電源
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