日立熱場掃描電鏡SU7000

日立熱場掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。

SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。

日立熱場掃描電鏡SU7000
主要特點：
 

1. 在相同WD的條件下，可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線分析

2. 多可同時實現6通道檢測與顯示

3. 可配置18個附件接口

應用領域：
 

金屬

復合材料

半導體器件

EBSP分析