陳霞
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當前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>物理性能檢測>>厚度檢測>> 日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地東莞市
更新時間：2024-03-17 20:19:28瀏覽次數(shù)：1184次
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陳霞
日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
消除測量者的偏差舒適，準確地測量1μm或更小的超薄膜
* 1線性度是
顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率?！ ∥灰屏?br /> 為±0.2％
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
?。y量誤差因位移量而異）
* 2根據(jù)被測物體的材質(zhì)，測量范圍可能會改變。
*注意* HKT-1240已因放大器單元的停產(chǎn)而停產(chǎn)。HKT-1216將替代HKT-1240。
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