X射線鍍層測厚儀提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產(chǎn)品質(zhì)量的*性和高品質(zhì)。

高分辨率的硅漂移器（SDD）

開槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)

8個準(zhǔn)直器

USB接口與計(jì)算機(jī)連接

  我們的牛津X射線鍍層測厚儀 金屬鍍層測厚儀 金屬鍍層分析儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。

        MAXXI 6 配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙，針對較薄而復(fù)雜的樣品，具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

亮點(diǎn)

采用微聚焦X射線光管，實(shí)現(xiàn)高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低

采用高分辨率的硅漂移探測器（SDD），提供能量級別的*效率，極低的檢出限（LOD）

多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產(chǎn)額，提高測量效率

開槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)，十分適合電路板或其他超大平板樣品

“USB接口”只需通過USB與計(jì)算機(jī)連接，無需額外的硬件或軟件

德國制造，符合zui高工程標(biāo)準(zhǔn)，堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)*可靠性

通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認(rèn)證，滿足zui高輻射安全標(biāo)準(zhǔn)

性能及符合性

zui多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正

同時實(shí)現(xiàn)多于25種元素的定量分析

檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認(rèn)證

開槽式大樣品臺

可編程的XY樣品臺

樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm

創(chuàng)新的防撞設(shè)計(jì) 

可編程的樣品臺

預(yù)定位激光技術(shù)

zui大化的樣品臺行程范圍及速度

自動測量

軟件及校準(zhǔn)

基于WindowsTM 7操作系統(tǒng)，直觀的軟件MaxxControl

選擇經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)以實(shí)現(xiàn)zui大準(zhǔn)確性或選擇FP無標(biāo)樣模式以輕松實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)

成分分析：可自由選擇元素；厚度測量：可自定義鍍層結(jié)構(gòu)

對RoHS和貴金屬進(jìn)行工廠預(yù)裝校準(zhǔn)（可選）