帕克PARK NX10原子力顯微鏡?為您帶來高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創(chuàng)新研究工作的同時提供高精度的數(shù)據(jù)。

The quickest path to innovative research

 Park NX10原子力顯微鏡為您帶來高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有 。無論是樣品設(shè)定、全掃描成像還是測量與分析，Park NX10都能在每一步為您節(jié)約時間，讓您可以更加專注于創(chuàng)新研究工作。 

Better accuracy means 

better data

帕克PARK NX10原子力顯微鏡?為您帶來高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。它是unique真正非接觸式原子力顯微鏡，在延長探針使用壽命的同時，還能夠良好地保護您的樣品不受損壞。此外，柔性解耦XY軸和Z軸掃描器可帶來的精確度和分辨率。

Better accuracy means 

better productivity

無論是樣品設(shè)定、全掃描成像還是測量與分析，Park NX10都能在每一步為您節(jié)約時間。用戶友好型界面、簡易的激光準(zhǔn)直系統(tǒng)、自動探針接近以及分析軟件都能讓您更快的獲得研究結(jié)果。

Better accuracy means 

better research

當(dāng)您有了更多充足的時間和更精確的數(shù)據(jù)，您可以更加專注于創(chuàng)新研究工作。即便是較為復(fù)雜的項目，Park NX10也能夠憑借著眾多的測量模式和可定制化設(shè)計滿足您的所有需求。

2技術(shù)信息

Accurate AFM Solutions for General Research

Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector

Low Noise Z Detector of Park NX10 AFM

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode

·NX平臺的關(guān)鍵技術(shù)改進(jìn)和設(shè)計特點

·噪聲水平為業(yè)界低，競品無法匹敵

·默認(rèn)的形貌信號

Z軸探測器是全新的NX系列原子力顯微鏡的核心技術(shù)改進(jìn)之一。它是Park*的新型應(yīng)變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲，它一躍成為行業(yè)內(nèi)噪聲低的Z軸探測器。超低噪聲讓Z軸探測器可作為默認(rèn)的形貌信號。通過對比全新的NX系列原子力顯微鏡與我們前幾代的原子力顯微鏡，我們可以輕易地看到其中的差異。如果Z軸探測器的噪聲過高，用戶是無法觀察到藍(lán)寶石晶片的原子臺階。Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測器所發(fā)出的高度信號，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode

The Best User Convenience by Design

Easy Tip and Sample Exchange

*的鏡頭設(shè)計讓您能夠輕易地從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂，您無需進(jìn)行繁雜的激光準(zhǔn)直工作。

Lightning Fast Automatic Tip Approach

得益于*的探針樣品接近功能，用戶無需進(jìn)行干預(yù)操作，且懸臂裝載后僅需10秒便可進(jìn)行掃描。通過監(jiān)控懸臂對于接近表面的反應(yīng)，Park NX10能夠在懸臂裝載后10秒內(nèi)，讓探針自動快速接近樣品。正是憑借著高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理，NX系列可讓探針快速接近樣品表面，且無需用戶干預(yù)。

Easy, Intuitive Laser Beam Alignment

 憑借著我們*的預(yù)準(zhǔn)直懸臂架，懸臂在裝載時激光便已完成聚焦。并且，自上而下的同軸視角，讓您可以輕松地找到激光光點。由于激光垂直照射在懸臂上，您可以憑直覺旋動兩個定位旋鈕，將激光光點隨著X軸和Y軸移動。這樣，您可以在激光準(zhǔn)直界面中，輕易地找到激光并將其定位在PSPD上。此時，您只需要稍作調(diào)整實現(xiàn)信號的大化，便可開始獲取數(shù)據(jù)。

3. 原子力顯微鏡模式

Adaptable to any project

Electrical and Other Sample Characterization Modes

得益于眾多的掃描模式和模塊化設(shè)計，NX系列可輕易滿足任何掃描探針顯微項目的需求。