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北京愛萬提斯科技有限公司
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更新時間：2024-08-16 08:00:40瀏覽次數(shù)：219次
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余弦校正器余弦校正器是一種用于光譜輻射取樣的光學元件，用于收集180°立體角內(nèi)的光，從而消除了其它取樣裝置如裸光纖,準直透鏡和積分球中由于光收集取樣幾何結(jié)構(gòu)限制所導致的光學耦合問題
余弦校正器是一種用于光譜輻射取樣的光學元件，用于收集180°立體角內(nèi)的光，從而消除了其它取樣裝置如裸光纖,準直透鏡和積分球中由于光收集取樣幾何結(jié)構(gòu)限制所導致的光學耦合問題。
Avantes公司提供四種不同型號的余弦校正器CC-UV/VIS和CC-VIS/NIR的有效直徑為3.9mm，尺寸為18mm(長)×6.5mm(外徑)。CC-UV/VIS采用特氟龍材料,特別適合200-800nm譜段,CC-VIS/NIR采用Radin石英材料,覆蓋整個紫外/可見/近紅外光譜范圍200-2500nm。CC-UV/VIS/NIR-8MM與CC-VIS/NIR類似,但有效直徑增大至8mm,尺寸為29mm(長)×12mm(外徑)。特殊的CC-UV/VIS/NIR-5.0用于太陽輻射測量，有效直徑為20mm,視場角為5°,比其它余弦校正器要大得多,317mm(長)×38mm(外徑)。
| CC-UV/VIS | CC-UV/VIS/NIR | CC-UV/VIS/NIR-8.0 | CC-UV/VIS/NIR-5.0 | |
| 有效直徑 | 3.9 mm | 8.0 mm | 20.0 mm | |
| 漫射材料 | Teflon (200-800nm),,約1 mm厚 | Radin石英(200-2500 nm), 約1.5mm厚 | ||
| 尺寸 | 6.5 mm 直徑, 18 mm 長 | 12 mm 直徑, | 38 mm 直徑, 317 mm 長 | |
| 采樣幾何結(jié)構(gòu) | 接收180°視場角的光 | 接收5°視場角的光 | ||
| 接頭 | SMA 905 | |||
| 工作溫度 | -30°C 到 +100°C | |||
| CC-UV/VIS | 用于UV/VIS波段的余弦校正器, 包括SMA接頭 |
| CC-VIS/NIR | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 包括SMA接頭 |
| CC-UV/VIS/NIR-8MM | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 8mm 有效面積，包括SMA接頭 |
| CC-UV/VIS/NIR-5.0 | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 5°視場角，包括SMA接頭 |
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