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掃描電子顯微鏡在金屬腐蝕與防護研究中的應用實例
掃描電子顯微鏡（SEM）廣泛應用于材料、醫(yī)學、地質、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領域。由于操作方便，制樣簡單，景深大，成像富有立體感，SEM已成為表面分析...
詳細介紹
TESCAN UniTOM
模塊化、配置靈活，亞微米級三維X射線成像
TESCAN UniTOM 是一款靈活的高分辨率 X 射線 CT 系統(tǒng)，可針對特定應用量身定制，
以限度地提高圖像質量和分辨率。可提供不同配置，從單一來源檢測器配置到具有多個 X 射線源和檢測器的更靈活的系統(tǒng)。
主要優(yōu)勢
※ 根據用戶需求定制
UniTOM 是一款配置靈活的高分辨 X 射線 CT 顯微鏡，可根據用戶的需求組合功能模塊，限度的提高圖像質量、分辨率和分析速度。
UniTOM 是一款配置靈活的高分辨 X 射線 CT 顯微鏡，可根據用戶的需求組合功能模塊，限度的提高圖像質量、分辨率和分析速度。
※ 感興趣區(qū)域的直觀觀測
可在概覽圖上選擇感興趣區(qū)域進行實時縮放，獲得孔隙結構和礦物的細節(jié)信息。
※ 亞微米級分辨率
UniTOM 可以獲得 500 nm 的真實空間分辨率，并且適用于多種類型和尺寸的樣品，可分析的樣品直徑為 40 cm, 高度 50 cm。
※ 模塊化設置
模塊化設計，硬件模塊（如可附加的X射線源或探測器）可以輕松集成到系統(tǒng)中，方便用戶進行硬件升級或更換單個硬件，進而延長系統(tǒng)的使用壽命。
可在概覽圖上選擇感興趣區(qū)域進行實時縮放，獲得孔隙結構和礦物的細節(jié)信息。
※ 亞微米級分辨率
UniTOM 可以獲得 500 nm 的真實空間分辨率，并且適用于多種類型和尺寸的樣品，可分析的樣品直徑為 40 cm, 高度 50 cm。
※ 模塊化設置
模塊化設計，硬件模塊（如可附加的X射線源或探測器）可以輕松集成到系統(tǒng)中，方便用戶進行硬件升級或更換單個硬件，進而延長系統(tǒng)的使用壽命。
模塊化靈活配置，分辨率最小可達 500 nm
UniTOM 是一款多功能的亞微米 X 射線顯微 CT 系統(tǒng)，可以達到最小 500 nm 的真實空間分辨率。 該系統(tǒng)非常靈活，
可處理多種樣品類型和尺寸，樣品直徑可達 30 cm，高度可達 50 cm。UniTOM 具有模塊化設置，
其中每個新組件硬件（例如附加的 X 射線源或檢測器）可以輕松集成到系統(tǒng)中，從而允許將來硬件升級或單個組件的簡單替換，
延長 X 射線系統(tǒng)的使用壽命 。
放射蟲高分辨 3D 成像—UniTOM
選配 & 定制
※ 集成的原位套件
系統(tǒng)附加的輸入/輸出組件、高級電纜管理組件、系統(tǒng)內部 IO 接口，集成采集軟件。
系統(tǒng)附加的輸入/輸出組件、高級電纜管理組件、系統(tǒng)內部 IO 接口，集成采集軟件。
※ Multi-detector
系統(tǒng)中可以集成多個檢測器，限度地提高靈活性和性能。
系統(tǒng)中可以集成多個檢測器，限度地提高靈活性和性能。
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