精譜測控薄膜涂層測厚儀可以幫助我們實現(xiàn)高效的厚度檢測服務，可以實現(xiàn)高效、無損的測量。用戶可以通過這款設備提高檢測效率和生產精度。用戶可以選擇薄膜測試儀來提高設備的檢測效率，提供給市場更加優(yōu)質的產品。
精譜測控薄膜涂層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
精譜測控薄膜涂層測厚儀（技術方案）：
入射光在膜的上下表面發(fā)生多次反射
反射光的強度和薄膜折射率，基底(substrate)折射率及膜厚，波長有關
在已知折射率的情況下，根據(jù)測量出的反射光強和波長的函數(shù)，計算出膜厚
精譜測控薄膜涂層測厚儀的功能介紹：
1.測量鍍膜或涂布厚度，厚度范圍在10納米-100微米，準確度達到2納米或厚度0.4%，精度達到0.1納米，測量穩(wěn)定性0.3納米。
2.精確測量樣品的顏色和在380-780納米可見光范圍內的反射率曲線。
3.測量軟件支持20層以內的物理模型，并對多個參數(shù)進行同時測量。
4.具有折射率模型編輯擬合功能，對于100納米-幾個微米的膜，可以在折射率未知的情況下，結合軟件對膜厚，折射率參數(shù)進行同時測量。
5.軟件具有對樣品的粗糙度，背面反射，多角度入射進行建模的功能軟件還可針對已知樣品的模型，使用不同入射角和偏振進行仿真以計算不同情況下反射率曲線。
6.軟件還擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫，同時還支持函數(shù)型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier),物理光學（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（MaxwellGarnett,Bruggeman）EMA等折射率模型
7.客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結果。
8.我們還提供針對客戶在線系統(tǒng)的定制檢測系統(tǒng)。
