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北京麥迪森科技有限公司
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閱讀：92發(fā)布時間：2023-3-29
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過更換多種類型的加熱芯
片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。
PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位加熱/電學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工
藝制成的加熱芯片和電學(xué)測量芯片。加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學(xué)測量芯片可對樣品進
行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元
素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
原位加熱/電學(xué)樣品桿技術(shù)指標(biāo)
原位加熱/電學(xué)樣品桿產(chǎn)品選型
原位加熱/電學(xué)樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，電極數(shù)可選；同時可拓展真空轉(zhuǎn)移芯片桿、低溫芯片
桿，用戶可根據(jù)實驗需求自行選擇。
提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及
極靴的不同型號芯片式樣品桿，支持定制。
原位加熱/電學(xué)樣品桿國內(nèi)部分用戶
原位加熱/電學(xué)樣品桿典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位加熱實驗；
2、透射電鏡內(nèi)的原位加電實驗（可選針對敏感樣品的真空轉(zhuǎn)移方案）；
3、透射電鏡內(nèi)的原位熱電耦合實驗；
4、透射電鏡內(nèi)的低溫電學(xué)實驗；
以上便是為您帶來的透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿介紹，關(guān)于透射電鏡原位加
熱/電學(xué)樣品桿價格請咨詢（微信同號）。
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