原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測，或者直接進(jìn)行納米操縱。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中。

AFM基本成像模式特點(diǎn)：
1、接觸式
特點(diǎn)：通常情況下，接觸模式都可以產(chǎn)生穩(wěn)定的、分辨率高的圖像。但是這種模式不適用于研究生物大分子、低彈性模量樣品以及容易移動(dòng)和變形的樣品。
2、非接觸式
特點(diǎn)：由于為非接觸狀態(tài)，對(duì)于研究柔軟或有彈性的樣品較佳，而且針尖或者樣品表面不會(huì)有鈍化效應(yīng)，不過會(huì)有誤判現(xiàn)象。這種模式的操作相對(duì)較難，通常不適用于在液體中成像，在生物中的應(yīng)用也很少。
3、輕敲式
適用于對(duì)生物大分子、聚合物等軟樣品進(jìn)行成像研究
特點(diǎn)：對(duì)于一些與基底結(jié)合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對(duì)表面結(jié)構(gòu)的“搬運(yùn)效應(yīng)"。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式的更有效。
測試優(yōu)勢(shì)：
1) 低漂移和低噪音水平；
2) 配置有專有ScanAsys原子成像優(yōu)化技術(shù)，可以簡易快速穩(wěn)定成像；
3) 測試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm；
4) 溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級(jí)和埃級(jí)水平，并呈現(xiàn)出未有的高分辨率。；
5) 全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度；
6) 測試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm；
AFM應(yīng)用技術(shù)舉例：
AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環(huán)境下工作，且不受樣品導(dǎo)電性質(zhì)的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應(yīng)用。主要用途：
1. 導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體表面的高分辨成像
2. 生物樣品、有機(jī)膜的高分辨成像
3. 表面化學(xué)反應(yīng)研究
4. 納米加工與操縱
5. 超高密度信息存儲(chǔ)
6. 分子間力和表面力研究
7 摩擦學(xué)及各種力學(xué)研究
8 在線檢測和質(zhì)量控制