LDJD-C高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備
LDJD-C高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備可用于固體絕緣材料在高頻（100KHz-160MHz）下，高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等電性能的測(cè)試。可選配自動(dòng)測(cè)試模塊進(jìn)行介電常數(shù)的自動(dòng)測(cè)量。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 1409-2006 《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法》
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
手動(dòng)介電常數(shù)測(cè)試方法與步驟
1. 測(cè)試前主機(jī)建議預(yù)熱30分鐘
2. 把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
3. 在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
4. 被測(cè)樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當(dāng)材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm)，樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降，樣品要盡可能平整。（小于0.5mm的樣品測(cè)試，請(qǐng)參考附錄三，疊加測(cè)試法）
5. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設(shè)置為0。
- 再松開兩片極片，把被測(cè)樣品夾入平板電容上下極片之間，調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，以免夾得過緊或過松），這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量（旋轉(zhuǎn)主調(diào)電容旋鈕改變主調(diào)電容電容量），使主機(jī)處于諧振點(diǎn)（Q值大值）上。
- 取出S916測(cè)試夾具中的樣品，這時(shí)主機(jī)又失去諧振（Q值變?。?，此時(shí)調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使主機(jī)再回到諧振點(diǎn)（Q值大值）上，讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
- 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):
Σ＝D2 / D4
二 自動(dòng)介電常數(shù)測(cè)試方法與步驟(需選配自動(dòng)測(cè)試軟件模塊)
1. 自動(dòng)介電常數(shù)測(cè)試時(shí)，基本步驟同手動(dòng)一樣，只是主機(jī)支持通過數(shù)據(jù)模塊記錄S916測(cè)試夾具的數(shù)據(jù)，并自動(dòng)計(jì)算出介電常數(shù)。
2. 使用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換連接線,連接S916數(shù)據(jù)傳輸接口和介電常數(shù)測(cè)試主機(jī)背板上的四芯插座。
3. 按主機(jī)鍵盤區(qū)“2”按鍵di一次
4. 當(dāng)S916測(cè)試夾具夾緊待測(cè)材料，調(diào)節(jié)主機(jī)的主調(diào)電容使主機(jī)諧振，此時(shí)第二次按主機(jī)鍵盤區(qū)“2”按鍵。此時(shí)主機(jī)將保留終的D2數(shù)據(jù)
5. 拿出被測(cè)材料，再次調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的上下極片，直到主機(jī)再次諧振，后再一次按下主機(jī)鍵盤區(qū)“2”按鍵，主機(jī)保存D4數(shù)據(jù)，并計(jì)算出介電常數(shù)的數(shù)值。顯示下圖界面，此時(shí)主機(jī)已經(jīng)把計(jì)算出的介電常數(shù)e顯示在顯示屏上。
6. 按主機(jī)鍵盤區(qū)“Q”按鍵退出測(cè)試，結(jié)束測(cè)試。
試驗(yàn)步驟
1. 試樣的制備
試樣應(yīng)從固體材料上截取，為了滿足要求，應(yīng)按相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)方法的要求來制備。
應(yīng)精確地測(cè)量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以內(nèi)，測(cè)量點(diǎn)應(yīng)均勻地分布在試樣表面。必要時(shí)，應(yīng)測(cè)其有效面積。
2.條件處理
條件處理應(yīng)按相關(guān)產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定進(jìn)行。
3.測(cè)量
電氣測(cè)量按說明書進(jìn)行測(cè)量。
在1MHz或更高頻率下，必須減小接線的電感對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。此時(shí)，可采用同軸接線系統(tǒng)，當(dāng)用變電抗法測(cè)量時(shí)，應(yīng)提供一個(gè)固定微調(diào)電容器。
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