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日本紫外可見分光光度計

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更新時間：2021-06-28 18:06:20瀏覽次數(shù)：209次

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費爾伯恩精密儀器（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地日本是否進(jìn)口是 ......

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品參數(shù)：

光學(xué)系統(tǒng)	比例監(jiān)測雙光束
光譜帶寬	1.8nm
波長范圍	190～1100nm
波長允許誤差	±0.3nm
波長重復(fù)性	≤0.2nm
光度范圍	T:0～200.00%T A:-0.301～4.000Abs C:0～9999
透射比允許誤差	±0.3%T
透射比重復(fù)性	≤0.1%T
雜散光	≤0.05%T(220nm、340nm處)
基線平直度	±0.002A
漂移	≤0.001A/h (500nm處)
噪聲	(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T)
顯示器	320×240大屏幕LCD(6英寸)
外形尺寸	540x445x230(mm)

產(chǎn)品介紹：

大屏幕掃描型比例監(jiān)測雙光束紫外-可見分光光度計。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計確保儀器具有：高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比?？蓾M足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計計算機應(yīng)用軟件為您的儀器實現(xiàn)更加強大的功能。

功能：

光度測量：定波長測試吸光度、透過率和濃度測量

光譜掃描：掃描速度可選，間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm)，峰/谷自動檢測，圖譜縮放等功能
定量測定：單波長法、一階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合，最多可建立9個標(biāo)樣點的標(biāo)準(zhǔn)曲線
動力學(xué)測量(時間掃描)：對樣品進(jìn)行動力學(xué)測試，測試間隔時間可選，可保存1800個測試數(shù)據(jù)點。

特點：

持久的穩(wěn)定性：比例監(jiān)測雙光束光學(xué)系統(tǒng)，確保儀器長時間的穩(wěn)定
超低的雜散光：*的光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光，使高濃度樣品測試更準(zhǔn)確。
顯示操作人性化設(shè)計：大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡單方便。
自動比色架：自動八聯(lián)池可做更多樣品測定，大大提高了儀器測試速度
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu)，更換氘燈無需專用工具，免去換燈時光路調(diào)試步驟，使儀器調(diào)試、維護更加簡單。
豐富的可選附件：多種附件可供選擇，儀器測量范圍更加廣泛。
工作站軟件，具有各種測試、掃描功能

關(guān)鍵詞：顯示器分光光度計