- 顯微分光厚膜儀性能參數(shù):
階 段 | OPTM-A1 | OPTM-A1 | OPTM-A1 |
波長(zhǎng)范圍 | 230nm~800nm | 360nm~1100nm | 900nm~1600nm |
膜厚范圍 | 1nm~35μm | 7nm~49μm | 16nm~92μm |
測(cè)定時(shí)間 | 1秒/點(diǎn) | ||
光徑大小 | 10μm(可小至約5μm) | ||
檢 測(cè) 器 | CCD | CCD | InGaAs |
光 源 | 氘燈+鹵素?zé)?/td> | 氘燈+鹵素?zé)?/td> | 鹵素?zé)?/td> |
電源規(guī)格 | AC100V±10V 500VA (自動(dòng)樣品臺(tái)規(guī)格) | ||
尺 寸 | 556(W)×566(D)×618(H)(自動(dòng)樣品臺(tái)主體規(guī)格) | ||
重 量 | 約55kg(自動(dòng)樣品臺(tái)主體規(guī)格) |
- 顯微分光厚膜儀應(yīng)用特點(diǎn):
1.反射對(duì)物鏡片實(shí)現(xiàn)透明基板的高精度測(cè)定
如果是透明基板,因里面的反射光而無法正確測(cè)出膜厚。通過反射対物鏡片,可物理性的消除里面反射。即使是透明基板也可測(cè)出高精度的膜厚。特別是對(duì)帶有光學(xué)非均質(zhì)的基板效果很好。
2.顯微分光厚膜儀在微小區(qū)域測(cè)定所瞄定的模式或部位
在軟件上通過同時(shí)顯示樣品畫面和測(cè)定光采取部位,可很好的確認(rèn)到測(cè)定點(diǎn)。特別是對(duì)有微小點(diǎn)(直徑≥3μm)的形狀的樣品。
3.顯微分光厚膜儀在紫外區(qū)域?qū)崿F(xiàn)極薄膜的測(cè)定
在光干涉法中,膜越薄反射率的變化就越小。在紫外區(qū)域,由于膜厚反射率的變化相比可視區(qū)域要大,如果厚度為1nm左右的極薄膜,在紫外區(qū)域的測(cè)定效果很好。
4.顯微分光厚膜儀在近紅外區(qū)域?qū)崿F(xiàn)帶色樣品的測(cè)定
在可視區(qū)域,即使時(shí)吸收較強(qiáng)的彩色膜等帶色的樣品,在近紅外區(qū)域幾乎會(huì)變得很透明,所以在近紅外區(qū)域的測(cè)定效果很好。
5.自動(dòng)XY平臺(tái)實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測(cè)
OPTM標(biāo)配XY自動(dòng)平臺(tái),僅需輸入坐標(biāo)即可自動(dòng)多點(diǎn)檢測(cè)大面積樣品, 實(shí)時(shí)獲取厚度分布圖。平臺(tái)設(shè)有防誤觸光欄,避**測(cè)過程誤觸。平臺(tái)尺寸200mm×200mm,可以檢測(cè)12寸晶圓。

6.顯微分光厚膜儀的操作便捷,檢測(cè)時(shí)間短
QC模式—點(diǎn)擊即檢測(cè);
R&D模式—非標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)時(shí)間小于1s。