　用途與特點(diǎn)　
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。
本沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的儀器。

　主要技術(shù)參數(shù)　
1. 放大倍數(shù)：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作臺位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)；
4. 工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360о（無刻度）；
5. 光源：鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量：約18kg。

關(guān)鍵詞：投影儀工作臺

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