CWM400LT工業(yè)檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態(tài)進行顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測。 技術規(guī)格 目鏡：大視野 WF10X(視場數(shù)Φ22mm) 物鏡：無限遠平場消色差物鏡 PL L5X/0.12 工作距離：26.1 mm PL L10X/0.25 工作距離：20.2 mm PL L20X/0.40 工作距離：8.80 mm PL L50X/0.70 工作距離：3.68 mm 目鏡筒：三目鏡30˚傾斜, 可99%通光攝影。 落射照明系統(tǒng)：內置視場光欄、孔徑光欄、 (黃、藍、綠、磨砂玻璃)濾色片、轉換裝置， 推拉式檢偏器與起偏器 調焦機構： 粗微動同軸調焦,帶粗動手輪松緊度調整裝置,微動格值:1μm。 照明：12V30W鹵素燈，亮度可調 轉換器：五孔(內向式滾珠內定位) 底座外形尺寸：300mmX240mm 工作臺：機械式載物臺外形尺寸：185mmX140mm，移動范圍：橫向35mm，縱向:30mm |
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