介紹

蔡司 EVO 系列

模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用

EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶(hù)界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶(hù)以及新用戶(hù)。無(wú)論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

•  顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案

•  不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品

•  使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量

•  對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色

•  可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求

適合更多用戶(hù)操作

對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的以及新手用戶(hù)操作都很方便

在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，SEM 的操作通常是顯微鏡專(zhuān)家的專(zhuān)屬領(lǐng)域。但是對(duì)于非專(zhuān)家級(jí)用戶(hù)來(lái)說(shuō)，操作SEM就變得具有挑戰(zhàn)，比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師，他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時(shí)考慮了這兩類(lèi)用戶(hù)的需求，用戶(hù)界面選項(xiàng)既能滿足有經(jīng)驗(yàn)的顯微鏡專(zhuān)家也能滿足非專(zhuān)業(yè)用戶(hù)的操作需要。

智能導(dǎo)航與成像

大大提高樣品的測(cè)試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出

     蔡司導(dǎo)航相機(jī)

       相機(jī)可以安裝在倉(cāng)室前方， 以監(jiān)測(cè)樣品與背散射探測(cè)器以及物鏡底端之間的相對(duì)位置(倉(cāng)室相機(jī))；

       或安裝在真空室倉(cāng)門(mén)上方 (導(dǎo)航相機(jī))， 利用俯視圖查看樣品臺(tái)上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)

       置從光學(xué)顯微鏡圖像中識(shí)別出的預(yù)定義位置， 并在整個(gè)樣品測(cè)試過(guò)程中輕松導(dǎo)航。

      自動(dòng)化智能成像

       EVO實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品批量自動(dòng)、無(wú)人值守的圖像采集。蔡司自動(dòng)化智能成像非常適合例行檢測(cè)。它使

        用戶(hù)能夠自定義邊界區(qū)域，自動(dòng)生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域，并開(kāi)始自動(dòng)獲取圖

        像。自動(dòng)化智能成像將大大提高樣品的測(cè)試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。

將您的研究提升一個(gè)層次

使用六硼化鑭電子發(fā)射器能夠獲得更好的圖像

六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證您額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在以下兩個(gè)方面:

• 在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下， 有更多探針電流可供使用， 從而使圖像導(dǎo)航和優(yōu)化更容易

• 在相等的探針電流 (信噪比) 下， 光斑直徑要小得多， 從而提高了圖像分辨率

低加速電壓下高放大倍率的催化劑粒子 (左: 使用鎢燈絲， 右: 使用LaB6燈絲)

當(dāng)在具有挑戰(zhàn)性的成像條件下， 使用LaB6燈絲的用戶(hù)將有高達(dá)10倍的光束亮度， 從而提高了圖像分辨率和對(duì)比度

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

工作流程自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)顯微鏡的好處

由于蔡司是各種類(lèi)型顯微鏡和計(jì)量系統(tǒng)的優(yōu)秀供應(yīng)商， 所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合，使其功能能夠發(fā)揮得更好。

通過(guò)使用Shuttle & Find（蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分），您可以在（數(shù)碼）光學(xué)顯微鏡和 EVO 之間建立一個(gè)高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學(xué)顯微鏡*的光學(xué)對(duì)比方法與同樣*的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合， 獲得互補(bǔ)的數(shù)據(jù)， 從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機(jī)理。

Shuttle & Find 將EVO、光學(xué)顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個(gè)關(guān)聯(lián)的、多模態(tài)工作流程