在日常涂層測(cè)厚儀測(cè)厚過程中，有很多外在因素影響實(shí)際測(cè)量結(jié)果，導(dǎo)致最終測(cè)量結(jié)果存在誤差，本文從以下幾點(diǎn)可能對(duì)涂層測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響的因素進(jìn)行分析：

1）磁性金屬基體：磁性基體磁性變化會(huì)在一定程度上影響測(cè)量 ，因此在測(cè)量時(shí) ，當(dāng)使用測(cè)性測(cè)厚法進(jìn)行測(cè)量時(shí) ，應(yīng)該注意使得標(biāo)準(zhǔn)片的金屬磁性和表面粗糙度需要和試件類似 ；同樣的使用渦流測(cè)厚法來進(jìn)行測(cè)量時(shí) ，需要注意保證標(biāo)準(zhǔn)片的金屬電性質(zhì)與試件類似 ；

2）基體金屬的厚度：需要特別說明的是每種儀器在測(cè)量的時(shí)候都有著一定的臨界厚度 ，一旦超過這個(gè)臨界值則測(cè)量結(jié)果就不再受基體金屬厚度的影響 ；

3）邊緣效應(yīng)：測(cè)量時(shí) ，由于試件的表面粗糙度、表面形狀等均會(huì)對(duì)最終測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響 ，尤其是在靠近試件的邊緣部分由于測(cè)量?jī)x器十分敏感 ，所以試件邊緣部分測(cè)得數(shù)據(jù)一般不可靠 ；

4）曲率：同樣的 ，試件的固有屬性尤其是曲率的大會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響 ，而且隨著曲率半徑的降低 ，這種影響越大 ，所以彎曲度較大的試件測(cè)量結(jié)果亦不可靠。此外 ，對(duì)于容易變形的試件 ，測(cè)量結(jié)果也不可靠 ；

5）磁場(chǎng)的影響：如果測(cè)量期間 ，尤其是利用磁感應(yīng)原理進(jìn)行的涂層測(cè)量會(huì)由周圍的電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)的磁場(chǎng)環(huán)境嚴(yán)重干擾測(cè)量結(jié)果 ，所以涂層測(cè)厚儀工作過程中需要避免周圍的強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境 ；

6）表面附著物質(zhì)：由于涂層測(cè)厚儀對(duì)于某些覆蓋在試件表面的附著物十分敏感 ，附著物會(huì)在很大程度上影響測(cè)量穩(wěn)定性和測(cè)量精度。所以使用時(shí)也需要注意保證試件表面的清潔等 ；

7）測(cè)頭壓力：測(cè)頭在試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù) ，在測(cè)量時(shí)應(yīng)保證側(cè)頭平穩(wěn)放置于試件上 ，無外在其他力作用并且保持穩(wěn)定狀態(tài) ；

8）測(cè)頭取向：涂層測(cè)厚儀的測(cè)頭的放置位置對(duì)測(cè)量有影響，一般的 ，在測(cè)量中應(yīng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

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