XGT型光譜中性衰減低透過率模擬儀器按照JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計》計量檢定規(guī)程要求，檢定自動旋光糖量計低透過率示值誤差和重復性時，對于確實無法采用機械斬波低透過率模擬器時，采用的透過率光譜中性衰減模擬器，為新增加配置的計量標準器。
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬儀器
一、用途：
按照JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計》計量檢定規(guī)程要求，檢定自動旋光糖量計低透過率示值誤差和重復性時，對于確實無法采用機械斬波低透過率模擬器時，采用的透過率光譜中性衰減模擬器，為新增加配置的計量標準器。
二、主要參數(shù)：
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬儀器
一、用途：
按照JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計》計量檢定規(guī)程要求，檢定自動旋光糖量計低透過率示值誤差和重復性時，對于確實無法采用機械斬波低透過率模擬器時，采用的透過率光譜中性衰減模擬器，為新增加配置的計量標準器。
二、主要參數(shù)：
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
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