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CST-50缺口投影儀

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更新時(shí)間：2024-03-05 15:03:40瀏覽次數(shù)：311次

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：CST-50缺口投影儀（沖擊試樣缺口投影儀）是根據(jù)GB/T229－94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的.

詳細(xì)介紹

CST-50缺口投影儀應(yīng)用：專業(yè)用于檢測(cè)沖擊試驗(yàn)缺口是否合格的重要檢測(cè)設(shè)備，該儀器是利用光學(xué)投影的原理將被測(cè)的沖擊試樣U型和V型缺口與標(biāo)準(zhǔn)板圖對(duì)比以確定被檢測(cè)的沖擊試樣加工是否合格。該設(shè)備操作簡便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過程的*檢測(cè)設(shè)備。

CST-50缺口投影儀技術(shù)參數(shù)：

投影屏	200×200mm
放大倍率	50X
光源	12V 100W（鹵鎢燈）
試樣臺(tái)調(diào)節(jié)	前、后、左、右、上、下、360°旋轉(zhuǎn)
電源	200V 50HZ 200W
外型尺寸	515×224×603mm
重量	約18kg

專業(yè)用于檢測(cè)沖擊試驗(yàn)缺口是否合格的重要檢測(cè)設(shè)備，該儀器是利用光學(xué)投影的原理將被測(cè)的沖擊試樣U型和V型缺口與標(biāo)準(zhǔn)板圖對(duì)比以確定被檢測(cè)的沖擊試樣加工是否合格。該設(shè)備操作簡便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過程的*檢測(cè)設(shè)備。專業(yè)用于檢測(cè)沖擊試驗(yàn)缺口是否合格的重要檢測(cè)設(shè)備，該儀器是利用光學(xué)投影的原理將被測(cè)的沖擊試樣U型和V型缺口與標(biāo)準(zhǔn)板圖對(duì)比以確定被檢測(cè)的沖擊試樣加工是否合格。該設(shè)備操作簡便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過程的*檢測(cè)設(shè)備。專業(yè)用于檢測(cè)沖擊試驗(yàn)缺口是否合格的重要檢測(cè)設(shè)備，該儀器是利用光學(xué)投影的原理將被測(cè)的沖擊試樣U型和V型缺口與標(biāo)準(zhǔn)板圖對(duì)比以確定被檢測(cè)的沖擊試樣加工是否合格。該設(shè)備操作簡便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過程的*檢測(cè)設(shè)備。

關(guān)鍵詞：投影儀檢測(cè)設(shè)備