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日本KOSAKA臺階儀ET200

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產品型號ET200

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更新時間：2022-11-19 15:18:34瀏覽次數(shù)：247次

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上海百賀儀器科技有限公司

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產品簡介

日本KOSAKA臺階儀ET200用于測量半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。

詳細介紹

日本KOSAKA臺階儀ET200介紹
日本KOSAKA臺階儀ET200基于Windows XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應用。ET200 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數(shù)。
ET200配備了各種型探針，提供了通過程序控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)，更方便準確的定位測試區(qū)域。

日本KOSAKA臺階儀ET200產品特點
二次元表面解析，可測量段差
高精度、高分辨率和良好的再現(xiàn)性
FPD面板顯示，可測定微細表面形狀、段差、粗度等
低測定力，可測定軟質材料

日本KOSAKA臺階儀ET200技術參數(shù)

型號		ET200
樣品尺寸		φ160x48mm
樣品臺	尺寸	φ160
	傾斜度	±2°（X,Y手動）
	承重	2Kg
檢出器	觸針力	10μN-500μN（1mg-50mg）
	范圍	600μm（0.1nm分辨率）
	驅動	直動式（差動變壓器）
	觸針	R2μm 頂角60°
X軸	測長	100mm
	直線度	0.02μm/100mm
	速度	0.005-20mm/s
	重復性	±5μm（定位）
Y軸	測長	25mm/手動
Z軸	測長	50mm
放大倍數(shù)	垂直	50-2000000
放大倍數(shù)	水平	1-10000
監(jiān)控系統(tǒng)	攝像裝置	1/3 inch CCD
	監(jiān)視裝置	視頻捕捉板
	移動方法	手動
輔助功能		教學、機動傾斜、傾斜度分析、檢出器自動停止功能等
應用		成像、臺階、粗糙度、波紋度和傾斜度
重復性		1σ1nm
電源		AC90-240V 50/60Hz 300VA
外觀尺寸		W500xD440xH630mm 120Kg（不含防震臺）