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實(shí)時膜厚檢測儀

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產(chǎn)品型號DIGILEM-CPM-Xe/Halogen

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更新時間：2024-02-14 15:15:57瀏覽次數(shù)：146次

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產(chǎn)品簡介

實(shí)時的干涉測量設(shè)備，提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測。單色光打在樣品表面，由于膜厚和高度變化導(dǎo)致不同的光路長度時，使用干涉測量法。通過循環(huán)，系統(tǒng)能在監(jiān)控區(qū)使用實(shí)時監(jiān)測的方法計算蝕刻和鍍膜的速度，在規(guī)定的膜厚和槽深來進(jìn)行終點(diǎn)檢測?；谶@個相對簡單的理論，系統(tǒng)不但非常穩(wěn)定，并且可用于復(fù)雜的多層薄膜。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

概要

特征