深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
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詳細(xì)摘要： JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡,標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-12-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Bruker ALPHA II FTIR 傅立葉變換近紅外光譜儀，具有操作FTIR光譜儀的新方法。使用集成的平板電腦和專用的OPUS-TOUCH用戶界面，只...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-12-19 在線留言
詳細(xì)摘要： JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡，由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-12-19 在線留言
詳細(xì)摘要： Thermo Nicolet iS 5N 傅里葉變換近紅外光譜儀,大型開口式樣品室可容納各種各樣的樣品及采樣附件。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-12-18 在線留言
詳細(xì)摘要： 布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5。第十代 DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-12-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國neaspec 納米傅里葉紅外光譜儀nano-FTIR：具有10nm空間分辨率的納米級紅外光譜儀，散射型近場光學(xué)技術(shù)發(fā)展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-12-02 在線留言
詳細(xì)摘要： SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設(shè)計(jì)了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 德Bruker光學(xué)輪廓儀ContoruGT-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)QC/QA及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 激光橢偏儀SE 500adv，橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-24 在線留言
詳細(xì)摘要： ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-24 在線留言
詳細(xì)摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv，激光橢偏儀SE 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-23 在線留言
詳細(xì)摘要： SENDURO 全自動光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準(zhǔn)，自動測量和分析結(jié)果。...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-22 在線留言
詳細(xì)摘要： SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國 Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計(jì)，入射角度步進(jìn)值5。操作簡單，快速測量和直...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-20 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺SENresearc...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-19 在線留言
詳細(xì)摘要： JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag、Live analys...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-11-02 在線留言
詳細(xì)摘要： Nicolet iN 10 MX 顯微紅外成像光譜儀,采用一體化、高效光學(xué)設(shè)計(jì)，改善了常規(guī)單點(diǎn)測量的速度和靈敏度以及化學(xué)成像數(shù)據(jù)的質(zhì)量。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-09-14 在線留言
詳細(xì)摘要： Nano Indenter G200Nano Indenter G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進(jìn)行納米級測量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個(gè)*可升級，可擴(kuò)展且...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2022-09-12 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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