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更新時(shí)間：2023-08-07 15:30:54瀏覽次數(shù)：312次
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HC-210數(shù)顯磁性涂層測(cè)厚儀 HC-210涂層測(cè)厚儀是采用電磁測(cè)厚法的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)需要的儀器?？蔁o損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼......
HC-210涂層測(cè)厚儀是采用電磁測(cè)厚法的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)需要的儀器?？蔁o損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。
HC-210數(shù)顯磁性涂層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)：
◆采用了磁性測(cè)厚方法，可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；
◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單詞測(cè)量方式（SINGLE）;
◆具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（App1）；
◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
◆可采用兩種方法對(duì)一起進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
◆具有存貯功能：可存貯500個(gè)測(cè)量值；
◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量；
◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)提示；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
◆具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
◆具有與PC機(jī)通訊的同能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
◆具有電源欠壓指示功能；
◆操作工程有蜂鳴聲提示；
◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
HC-210數(shù)顯磁性涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品參數(shù)：
測(cè)頭類型 | HC-210（磁性F） | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | |
測(cè)量范圍（µm） | 0~1250 | |
低限分辨率（µm） | 0.1µm（0-100），1µm（100-1250） | |
顯示 | 背面照面，四位讀數(shù)顯示，兩行統(tǒng)計(jì)數(shù)字顯示，中文操作 | |
校準(zhǔn) | 廠家校準(zhǔn)，零校準(zhǔn)，校準(zhǔn)箔校準(zhǔn) | |
示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)（µm） | ±(3%H+1) |
二點(diǎn)校準(zhǔn)（µm） | ±[(1~3%H)+1] | |
測(cè)試條 | 測(cè)小曲率半徑（µm） | 凸面：1.5mm |
*小面值的直徑（mm) | Φ7 | |
基體臨界厚度（mm) | 0.5mm | |
使用環(huán)境 | 溫度：0℃-40℃ | |
濕度：20%RH-90%RH | ||
無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境 | ||
外形尺寸 | 140*65*30mm | |
凈重量 | 0.2KG | |
HC-210數(shù)顯磁性涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)：
覆蓋層 基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 （如：漆料、涂料、塑料、搪瓷和陽*化處理等） | 非磁性的有色金屬覆蓋層 （如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） |
如鐵、鋼等磁性金屬 | F型探頭 測(cè)量范圍：0µm~1250 µm | F型探頭 測(cè)量范圍：0µm~1250 µm |
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