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日立高新掃描電子顯微鏡

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更新時間：2023-11-18 09:01:12瀏覽次數(shù)：183次

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產(chǎn)品簡介

日立高新掃描電子顯微鏡主機與供電單元可分離，安裝非常靈活。近年來，掃描電鏡觀察表面精細結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，

詳細介紹

日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 I

掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%，且配備標準化的電源接口。主機與供電單元可分離，安裝非常靈活。近年來，掃描電鏡觀察表面精細結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，

此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP"，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現(xiàn)最直觀的視野移動。FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。

全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP"，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型^*1電子顯微鏡，仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD^*2），可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)清晰的畫質(zhì)
大直徑（30毫米²）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析^*2

*1設(shè)置到桌面上時，請將機體與電源盒分離

*2選項

日立科學(xué)儀器（北京）有限公司為您提供日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II 的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II 產(chǎn)地為日本、品牌為日立，型號為FlexSEM1000 II，價格為面議，更多相關(guān)信息可，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)

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