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HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號XploRA Nano

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更新時間：2024-02-06 15:34:26瀏覽次數(shù)：178次

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  HORIBA分子光譜產(chǎn)品

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北京國嘉恒業(yè)科學(xué)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

詳細(xì)信息：
將AFM的納米量級高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測試。

產(chǎn)品特點(diǎn)：
● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強(qiáng)拉曼（TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動準(zhǔn)直
● 可同時提供上方、側(cè)向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭，對環(huán)境噪聲不敏感

AFM-拉曼耦聯(lián)配置
HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行耦合，構(gòu)建一個功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號對熱點(diǎn)進(jìn)行成像，因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時采集每一點(diǎn)的SPM信號和拉曼光譜。

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

將您的所有需求集成到一個強(qiáng)大的系統(tǒng)中

我們所提供的解決方案使用直接光路耦合，對其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場光學(xué)技術(shù)（SNOM,NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學(xué)光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺多功能的儀器中，以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）或共點(diǎn)測量。
結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
● 同步測量的平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗做技術(shù)支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。

一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率