當(dāng)前位置：上海巨納科技有限公司>>分析檢測儀器>>激光粒度分析儀>>HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：袁文軍查看聯(lián)系方式

更新時間：2024-02-16 13:30:22瀏覽次數(shù)：182次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  分析檢測儀器

熒光光譜儀

探針接觸式輪廓儀

激光粒度分析儀

共聚焦拉曼光譜儀

激光共聚焦顯微鏡

碳硫氧氮?dú)浞治鰞x

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

上海巨納科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：574條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：袁文軍

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

簡要描述：動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

詳細(xì)介紹

HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

粒子直徑測定：
超寬動態(tài)光散射范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項(xiàng)目共同開發(fā)的相關(guān)器，實(shí)現(xiàn)高性能化
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90度檢測光學(xué)系統(tǒng)
雙光路系統(tǒng)（90度和173度）適用于更寬更濃度范圍的樣品測量，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測定

產(chǎn)品特點(diǎn)：
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定
HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池，可以測定僅100uL的Zeta電位
廣泛應(yīng)用于膠制粒子、機(jī)能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定
取樣后，僅需按測定開始按鈕即可，操作簡單

粒子直徑分布測定圖例