Atlas成像亮度色度計（顯示器測量）

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更新時間：2024-02-14 16:13:17瀏覽次數：282次

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產品簡介

Atlas系列成像（二維光譜視覺分析）高性能高分辨光譜視覺系統(tǒng)上海昊量光電提供Atlas系列2維光譜視覺系統(tǒng)（成像色度計）結合了有點和高分辨率相機兩款設備的系統(tǒng)，為顯示器、LED顯示屏和其它顯示器件的視覺檢測提供真實的顏色測量特性

詳細介紹

Atlas系列成像（二維光譜視覺分析）

高性能高分辨光譜視覺系統(tǒng)

上海昊量光電提供Atlas系列2維光譜視覺系統(tǒng)（成像色度計）結合了有點和高分辨率相機兩款設備的系統(tǒng)，為顯示器、LED顯示屏和其它顯示器件的視覺檢測提供真實的顏色測量特性。另外，該系統(tǒng)也可以進一步擴展增加色度計的功能，可以用作閃爍測量。

系統(tǒng)具有高度的靈活性，通過一個預先定義好，龐大的函數庫，而該函數庫已經被整合在一個容易使用的語言腳本里，最終用戶可以按照自己的需求編寫測試流程方案。

色度計,光度計,亮度計,照度計,LED顯示屏檢測,LCD顯示屏檢測,檢測,白點檢測,顯示屏壞點檢測,顯示屏色度監(jiān)測，表面平整度檢測,表面光澤度檢測

產品特點：可見光譜測量（380nm~780nm）
?亮度和色度測量
二維亮度和色度校準輸出
二維均勻性檢測
二維Mura檢測（Black，Cloud，blob，line）
塊狀或區(qū)域對比
確定區(qū)域比較
像素/線缺陷檢測
用戶自定義測試流程腳本
合格/不合格測量
數據記錄（用戶自定義）
無需校準儀器（無需培訓）

基本規(guī)格參數：

典型的測試項目

色度、亮度均勻性	通過DFF均勻性算法
線缺陷	通過算法
斑狀缺陷	通過ADMESY MURA算法
異物（灰塵等）	通過DFF MURA算法
像素缺陷	通過DFF MURA和顏色均勻性算法
漏光（邊緣Mural）	通過顏色均勻性算法
色斑檢測	通過DFF均勻性算法

相機參數

參數	800萬像素	1600萬像素相機
分辨率	3312×2488	4872 × 3248
探測器	KAI-08050 TrueSense	KAI-16000 TrueSense CCD
輸出格式	12 bit	12bit
非線性度	＜ 1%	＜ 1%
信噪比	60dB	60dB
曝光時間	1ms ~ 16 Senconds	1ms ~ 16 Senconds

光譜儀參數

光譜范圍	380nm ~ 780nm
波長分辨率（FWHM）	2.3nm
積分時間	1.4ms – 20s
雜散光	＜ 0.03%
非線性度	＜ 1%

鏡頭參數

參數		800萬像素			1600萬像素相機
鏡頭		Componon-S 4.0/80	Componon-S 4.5/90	Componon-S 5.6/100	Componon-S 4.5/90	Componon-S 5.6/100
焦距		80.3mm	91.2mm	102.3mm	91.2mm	102.3mm
視場角
水平		12.5°	11.2°	10.1°	16.0°	14.5°
垂直		9.4°	8.4°	7.6°	10.7°	9.7°
斜線		15.5°	13.9°	12.6°	19.2°	17.3°
工作距離
6inch/152mm	593mm		677mm	766mm	492mm	558mm
8inch/203mm	774mm		883mm	997mm	635mm	719mm
10inch/254mm	956mm		1089mm	1228mm	779mm	880mm
12inch/305mm	1137mm		1295mm	1459mm	922mm	1041mm