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日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測(cè)量?jī)x器MEASURES

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更新時(shí)間：2023-09-19 15:55:01瀏覽次數(shù)：161次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：靜電衰減測(cè)量?jī)x適用于檢查材料的靜電擴(kuò)散率，通過(guò)用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使樣品帶電，然后在停止照射空氣離子后檢查電荷的衰減曲線。。全新升級(jí)為H0110-S4B。該設(shè)備符合JIS L1094-1980半衰期測(cè)量?jī)x的要求，即測(cè)試紡織品和針織物靜電性能的方法。（如果需要用20mm的探頭高度進(jìn)行校準(zhǔn)，請(qǐng)?jiān)谫?gòu)買(mǎi)時(shí)注明。）作為使樣品帶電的方法，使用......

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日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測(cè)量?jī)x器MEASURES

靜電衰減測(cè)量?jī)x適用于檢查材料的靜電擴(kuò)散率，通過(guò)用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使樣品帶電，然后在停止照射空氣離子后檢查電荷的衰減曲線。。全新升級(jí)為H0110-S4B。

該設(shè)備符合JIS L1094-1980半衰期測(cè)量?jī)x的要求，即測(cè)試紡織品和針織物靜電性能的方法。（如果需要用20mm的探頭高度進(jìn)行校準(zhǔn)，請(qǐng)?jiān)谫?gòu)買(mǎi)時(shí)注明。）

作為使樣品帶電的方法，使用通過(guò)電暈放電產(chǎn)生的空氣離子的照射，通過(guò)選擇電暈放電的極性和施加電壓，可以使樣品帶正電或負(fù)電。

可以測(cè)量所有片狀樣品，例如薄膜、板材、線、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，請(qǐng)聯(lián)系我們。

Honest 可以進(jìn)行演示測(cè)量。請(qǐng)與我們聯(lián)系以獲取更多信息。

誠(chéng)實(shí)數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)已升級(jí)至V3。H0110-S4B 還支持 Honest。

為了將V3連接到H0110-S4A，需要對(duì)主機(jī)進(jìn)行修改。對(duì)于其他舊型號(hào)，可能無(wú)法修改連接，請(qǐng)聯(lián)系我們。

從H0110-S4開(kāi)始，校準(zhǔn)時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)探頭高度為15毫米，符合JIS。如需20mm校準(zhǔn)，請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)時(shí)注明。

購(gòu)買(mǎi)時(shí)注明AC100V 50Hz/60Hz。