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DM2500 MMEDXRF輕中元素光譜儀

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上海愛斯特電子有限公司

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產(chǎn)品簡介

多單色激發(fā)實(shí)現(xiàn)高峰背比，使能測元素（B～Zn），其準(zhǔn)確度媲美大型波長色散光譜儀通用型滿足各行各業(yè)任何種類物料元素濃度的測量要求采用多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù) 對(duì)數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實(shí)現(xiàn)衍射并作為二次靶高計(jì)數(shù)率、高分辨率 ...

詳細(xì)介紹

DM2500

MMEDXRF輕中元素光譜儀

（通用型）

多單色激發(fā)實(shí)現(xiàn)高峰背比，使能測元素（B～Zn），

其準(zhǔn)確度媲美大型波長色散光譜儀

通用型滿足各行各業(yè)任何種類

物料元素濃度的測量要求

采用

多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù)

對(duì)數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實(shí)現(xiàn)衍射并作為二次靶

高計(jì)數(shù)率、高分辨率、高透過率(AP3.3窗)SDD探測器

電壓、電流、靶材組合的微焦斑薄鈹窗X射線管源

符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T3286.11

GB/T4333.5

YS/T63.16

GB/T24198

GB/T24231

GB/T34534

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085

等

概述

DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀，詳稱DM2500多單色激發(fā)能量色散X射線熒光輕中元素（B～Zn）光譜儀，是本公司集數(shù)十年X熒光光譜儀的研究經(jīng)驗(yàn)，在公司原有的DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀、X熒光光譜儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種具創(chuàng)新性的XRF光譜儀。它采用多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shù)。主要部件，如：單色晶體采用本公司研制的具有本公司的對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦鍺單色晶體，X射線管采用KeyWay公司生產(chǎn)的50W微焦點(diǎn)大輻射角薄鈹窗X射線管，并對(duì)其高壓、電流、靶材進(jìn)行組合， X射線探測器采用德國Ketek公司生產(chǎn)的具有高計(jì)數(shù)率、高能量分辨率、高透過率的常溫用SDD半導(dǎo)體X射線探測器。并且采用具有本公司自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的輕元素專用的光學(xué)系統(tǒng)及多種方法組合使用的多個(gè)單色激發(fā)系統(tǒng)等的技術(shù)，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統(tǒng)，樣品自旋裝置，特別適合粉末壓片樣品，且可根據(jù)應(yīng)用選擇真空系統(tǒng)或自充氣系統(tǒng)。由此使本光譜儀達(dá)到水平。在與大型波長色散光譜儀的比較試驗(yàn)中，其大部分性能指標(biāo)接近或達(dá)到大型波長色散光譜儀的性能指標(biāo)，某些甚至超過。其性能指標(biāo)相比進(jìn)口同類產(chǎn)品更好，而價(jià)格僅為進(jìn)口同類產(chǎn)品的一半，具有的價(jià)格性能比。另外國內(nèi)企業(yè)售后服務(wù)的方便程度是國外企業(yè)所無法相比的。且本光譜儀良好的屏蔽防護(hù)設(shè)計(jì)保證無任何射線泄漏，滿足輻射豁免要求。

適用范圍

DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各行各業(yè)所有物料的含量測量。無論環(huán)保、冶金、化工、地質(zhì)、礦山、電子電氣、食品等各行業(yè)，還是壓片、熔片、液體等各類型樣品，只要用戶所要求的測量元素在B(5)～Zn(30)的范圍內(nèi)，DM2500都能進(jìn)行準(zhǔn)確測量。其符合幾乎所有元素測定XRF光譜法標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求，如：國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學(xué)分析方法　第11部分：氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測定　波長色散X射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、GB/T4333.5-2016《硅鐵硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含量的測定波長色散X-射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法第16部分：元素含量的測定波長色散X射線熒光光譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定.波長色散X射線熒光光譜法(常規(guī)法)》等。其還符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》、JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。

如貴用戶對(duì)某些元素的測量有特殊的要求，則本公司可根據(jù)用戶的要求更改單色激發(fā)系統(tǒng)和或軟件系統(tǒng)以滿足用戶對(duì)測量元素的要求。

特點(diǎn)

快速同時(shí)–所需測量元素同時(shí)快速分析，一般幾十秒給出含量結(jié)果。

高準(zhǔn)確度–采用*MMEDXRF技術(shù)，LSDCC核心技術(shù)，根據(jù)所要測量的元素來選擇單色光的能量及產(chǎn)生單色光的方法，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比，具出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性，的準(zhǔn)確度。

向下照射–采用X射線向下照射系統(tǒng)，杜絕了樣品粉末污染損壞探測系統(tǒng)的可能，特別適合粉末壓片樣品。

樣品自旋–具有樣品自旋裝置，消除了壓片樣品中由于特硬物質(zhì)的存在而不易粉碎造成的樣品不均勻性。

長期穩(wěn)定–采用可變?cè)鲆鏀?shù)字多道，有PHA自動(dòng)調(diào)整、漂移校正、偏差修正等功能，具的長期穩(wěn)定性。

環(huán)保節(jié)能–射線防護(hù)達(dá)豁免要求。分析時(shí)不接觸不破壞樣品，無污染，無需化學(xué)試劑，也不需要燃燒。

使用方便–觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動(dòng)]鍵即可，真正實(shí)現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性–一體化設(shè)計(jì)，集成化程度高，環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)，抗力強(qiáng)，可靠性高。

高性價(jià)比–無需鋼瓶氣體，運(yùn)行維護(hù)成本極低。價(jià)格為國外同類產(chǎn)品的一半。是真正的高性價(jià)比產(chǎn)品。

技術(shù)

同標(biāo)準(zhǔn)型

校準(zhǔn)

X熒光分析方法是一種參考方法，校準(zhǔn)是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強(qiáng)度來得到定量分析的結(jié)果。其某元素的含量計(jì)算式（即校準(zhǔn)曲線）為：

C＝D＋EI_C＋FI_C²（1）

式中，I_C =f(I₀)，I₀為原始強(qiáng)度（即原始道計(jì)數(shù)率），I_C為處理后強(qiáng)度（或修正后強(qiáng)度），D、E、F是由校準(zhǔn)確定的系數(shù)。校準(zhǔn)的方法是：用光譜儀測量一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品或有證標(biāo)準(zhǔn)樣品的每種元素強(qiáng)度，利用回歸分析，例如最小二乘法，確定（1）的系數(shù)。

用已知含量的某單位鋁用碳素校準(zhǔn)樣品對(duì)光譜儀進(jìn)行校準(zhǔn)，得到的數(shù)據(jù)如表1。

表1.某單位鋁用碳素校準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)結(jié)果數(shù)據(jù)（ppm）

元素	Na	Si	S(%）	Ca	V	Fe	Ni
系數(shù)D	-489.8	-66.93	-0.34	-276.9	-372.7	-158.1	-140.2
系數(shù)E	0.9447	6.458	1.58	1.074	1.251	0.2932	0.854
系數(shù)F	0	0	0	0	0	0	0
相關(guān)系數(shù)γ	0.9612	0.9971	0.9956	0.9833	0.9977	0.9561	0.9742

這些校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)γ 均大于0.95，表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。

重復(fù)性

對(duì)某單位鋁用碳素樣品中的某一樣品，進(jìn)行11次測量，得到各元素的重復(fù)性數(shù)據(jù)如表2。

表2.某單位鋁用碳素樣品重復(fù)性測量數(shù)據(jù)分析（ppm）

元素	Na	Si	S(%）	Ca	V	Fe	Ni
理論值	111.5	223	1.56	311.8	410	242	242
平均示值	105.80	225.36	1.55	312.52	412.91	232.61	235.02
示值	108.09	228.23	1.56	315.88	418.04	234.13	237.35
最小示值	102.4	223.19	1.54	310.3	410.69	231.48	233.87
極差	5.69	5.04	0.02	5.58	7.35	2.65	3.48
示值標(biāo)準(zhǔn)偏差	2.11	2.13	0.0071	2.21	3.01	0.96	1.41
3倍示值標(biāo)準(zhǔn)偏差（儀器重復(fù)性限）	6.33	6.39	0.021	6.63	9.03	2.88	4.23
GB/T176的重復(fù)性限	15	23	0.033	15	15	9	8
YS/T63.16允許差	35	45	0.10	30	25	25	20
DM2500與YS/T63.16的符合性	遠(yuǎn)優(yōu)	遠(yuǎn)優(yōu)	優(yōu)	遠(yuǎn)優(yōu)	優(yōu)	遠(yuǎn)優(yōu)	優(yōu)

注：粉末壓片樣品。在X射線源為半功率（25W），測量時(shí)間為300s的條件下，連續(xù)進(jìn)行11次測量所得的結(jié)果。

從上表可知：光譜儀的重復(fù)性限均小于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法第16部分：元素含量的測定波長色散X射線熒光光譜分析方法》所要求的重復(fù)性限。所以，DM2500光譜儀可實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性，滿足YS/T63.16—2019有關(guān)重復(fù)性的要求。

主要技術(shù)指標(biāo)

測量元素	可選擇B(5)～Zn(30)中的任意元素
X射線管	電壓：≤50keV，電流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可選）
探測器	SDD，有效面積：20mm²，分辨率：≥123eV，計(jì)數(shù)率：≤2Mcps，入射窗：AP3.3
檢測限（300s）	C：2.0%，N：1.0%，O：0.5%，F：0.15%， Na：30ppm，Mg：20ppm，Al：10ppm，Si/P/S/Cl：2.0ppm，K-Zn：3.0ppm
測量范圍	檢測限的3倍～99.99%。
重復(fù)性限	滿足幾乎所有元素測定XRF光譜法標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求，如：GB/T 176—2017，GB/T3286.11-2022，GB/T4333.5-2016，YS/T63.16—2019，GB/T24198-2009等
系統(tǒng)測量時(shí)間	1～999s，推薦值為300s
測量氛圍	自充氣系統(tǒng)或氦氣
使用條件	環(huán)境溫度：5～40℃，相對(duì)濕度：≤85%(30℃)，供電電源：220V±20V，50Hz，≤200W
尺寸及重量	540mm×500mm×450mm，35kg